[发明专利]一种高低温下反射镜参数的测试装置和测试方法无效
| 申请号： | 201110300863.7 | 申请日： | 2011-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN102507146A | 公开（公告）日： | 2012-06-20 |
| 发明（设计）人： | 刘宇刚 | 申请（专利权）人： | 中国航空工业第六一八研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 710065 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明属于光学技术、涉及一种高低温下反射镜参数的测试装置和测试方法。本发明高低温下反射镜参数测量装置为一用于放置反射镜的封闭壳体，该壳体开有用于光束传输的入射窗口和出射窗口，入射窗口和出射窗口由光透明介质制成，且壳体内壁设置有温度传感器、加热器件和制冷器件。本发明通过在反射镜外增加一温控壳体，并利用光路对反射镜参数进行测量，较为简单方便的实现高低温下反射镜参数的测量，填补了对高低温下反射镜参数测量方面的空白，具有较大的实际意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 低温 反射 参数 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种高低温下反射镜参数测量装置，其特征在于，为一用于放置反射镜的封闭壳体，该壳体开有用于光束传输的入射窗口和出射窗口，入射窗口和出射窗口由光透明介质制成，且壳体内壁设置有温度传感器、加热器件和制冷器件。
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