[发明专利]一种高灵敏度紫外探测器的制备方法有效
申请号: | 201110279092.8 | 申请日: | 2011-09-20 |
公开(公告)号: | CN102315330A | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 付凯;李海军;杨乐臣;刘冬;刘帆;熊敏;张宝顺 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 | 代理人: | 陈忠辉 |
地址: | 215125 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明揭示了一种高灵敏度紫外探测器的制备方法,该方法以调节宽禁带半导体的材料组分来实现对紫外波段的选择性探测。特别通过在该宽禁带半导体制备表面柱阵列结构,再采用紫外透光导电材料沉积并覆盖表面柱阵列结构区域作为肖特基接触电极,对入射光信号进行筛选,提高探测的信噪比。采用本发明制备方法制造的紫外探测器,极大地增大了探测器的比表面积,从而显著提高了紫外探测器的探测灵敏度,进而促进紫外探测器系统向小型化、便携式和高灵敏兼具的目标发展;同时,该制备方法具有简化工艺,降低成本的显著特效。 | ||
搜索关键词: | 一种 灵敏度 紫外 探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种高灵敏度紫外探测器的制备方法,其特征在于包括步骤:Ⅰ、在蓝宝石衬底上通过Si的原位掺杂生长制备n型GaN掺杂层,并在n型GaN掺杂层上生长宽禁带半导体层;Ⅱ、在宽禁带半导体层上利用掩膜法进行台阶刻蚀,刻蚀台面外侧的欧姆电极区域至n型GaN掺杂层;Ⅲ、在欧姆电极区沉积Ti/Al/Ni/Au复合金属,并退火形成欧姆接触;Ⅳ、在步骤Ⅱ刻蚀所得的宽禁带半导体层台面上制备刻蚀掩膜,并利用感应耦合等离子体刻蚀法刻蚀出表面柱阵列,刻蚀深度300~500nm;Ⅴ、利用光刻套准和磁控溅射法在表面柱阵列区域沉积紫外透光导电层,并退火形成肖特基接触;Ⅵ、利用光刻套准和磁控溅射法分别在欧姆接触和肖特基接触表面制备加厚电极,并通过钝化、引线及封装后制成紫外探测器。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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