[发明专利]一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法有效

专利信息
申请号: 201110266688.4 申请日: 2011-09-09
公开(公告)号: CN102990183A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 苟俊峰;曾立云;谭磊;焦淑萍 申请(专利权)人: 中国航天科工集团第三研究院第八三五七研究所
主分类号: B23K3/08 分类号: B23K3/08
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 高尚梅
地址: 300141*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明属于BGA器件返修工艺,具体涉及一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法。目的是提供一种精确控制BGA器件返修过程中焊球表面涂覆膏状助焊剂高度的工艺方法,防止因为BGA焊球焊接不当而造成BGA器件或印制板的报废。步骤1.根据返修BGA器件的焊球直径,确认焊球的实际高度H;步骤2.使用方形平底的容器盛装助焊剂;步骤3.将方形平底的容器置于返修工作台的元件拾取托盘上;步骤4.将BGA器件焊球一侧浸入膏状助焊剂模具中,并使用拾取吸嘴将BGA器件的焊球接触到膏状助焊剂模具的底模时为止,完成BGA器件的助焊剂涂抹工作。当膏状助焊剂浸润的高度占焊球实际高度的45%~55%时,焊接质量最优。本发明主要通过精确控制焊膏转移过程中膏状助焊剂的涂覆高度,使得膏状助焊剂浸润高度处于45%~55%H区间,来保证BGA器件的返修质量。
搜索关键词: 一种 bga 器件 返修 过程 转移 膏状 焊剂 方法
【主权项】:
一种BGA器件返修过程中转移膏状助焊剂的方法,其特征在于:包括如下步骤:步骤1.根据返修BGA器件的焊球直径,确认焊球的实际高度H; H = 1 2 ( D + D 2 - d 2 ) - - - ( 1 ) 其中,D为焊球的直径,d为焊盘的直径;步骤2.使用方形平底的容器盛装助焊剂,助焊剂厚度L满足下述关系式; L = 1 2 H - ( H 2 D - 1 6 H 3 ) 8 ab - - - ( 2 ) 其中,H为式(1)所述BGA焊球的实际高度,n为返修BGA器件的焊球数量,D为焊球的直径,a为方形容器内壁的长度,b为方形容器内壁的宽度;步骤3.将方形平底的容器置于返修工作台的元件拾取托盘上;步骤4.将BGA器件焊球一侧浸入膏状助焊剂模具中,并使用拾取吸嘴将BGA器件的焊球接触到膏状助焊剂模具的底模时为止,完成BGA器件的助焊剂涂抹工作。
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