[发明专利]一种电路辐照性能仿真方法及设备无效
| 申请号： | 201110226452.8 | 申请日： | 2011-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN102289546A | 公开（公告）日： | 2011-12-21 |
| 发明（设计）人： | 卜建辉;毕津顺;韩郑生;罗家俊 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50;H01L21/00 |
| 代理公司： | 北京汉昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11370 | 代理人： | 朱海波 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种电路辐照性能仿真方法，其特征在于，所述方法包括：a)对器件进行辐照实验；b)提取每种器件的测试数据；c)基于所述测试数据建立每种器件的辐照模型；d)基于为每种器件建立的辐照模型以及组成电路的各个器件之间的逻辑关系，预测由多个器件组成的电路的辐照性能。相应的，本发明还提供了一种电路辐照性能仿真设备。本发明通过使用器件辐照模型结合器件在各种总剂量辐照条件下的测量数据，在设计阶段对由多个器件构成的电路的辐照性能做出预测。有效降低了电路设计的开发周期和生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路 辐照 性能 仿真 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种电路辐照性能仿真方法，其特征在于，所述方法包括：a)对器件进行辐照实验；b)提取每种器件的测试数据；c)基于所述测试数据建立每种器件的辐照模型；d)基于为每种器件建立的辐照模型以及组成电路的各个器件之间的逻辑关系，预测由多个器件组成的电路的辐照性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所，未经中国科学院微电子研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110226452.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种网络用户身份认证方法
- 下一篇：乳清蛋白的规模纯化方法
