[发明专利]一种电路辐照性能仿真方法及设备

权利要求书

1.一种电路辐照性能仿真方法，其特征在于，所述方法包括：

a)对器件进行辐照实验；

b)提取每种器件的测试数据；

c)基于所述测试数据建立每种器件的辐照模型；

d)基于为每种器件建立的辐照模型以及组成电路的各个器件之间的逻辑关系，预测由多个器件组成的电路的辐照性能。

2.根据权利要求1中所述的方法，其特征在于，在步骤a)和b)中，分别在对器件辐照前和不同的总剂量辐照后提取每种器件的一组测试数据。

3.根据权利要求1中所述的方法，其特征在于，在步骤c)中，将对经过特定总剂量辐照的器件测试获得的数据以及总剂量辐照数值代入预先设定的辐照模型，求得该器件的辐照模型参数，从而建立该器件的辐照模型。

4.根据权利要求1中所述的方法，其特征在于，在步骤d)中，通过软件仿真将构成电路的器件之间逻辑关系用函数表达，然后将已经建立的各个器件的辐照模型代入该函数获得电路辐照模型，仿真该电路在不同总剂量辐照下的输入输出特征曲线，预测所述电路的辐照性能。

5.根据权利要求1或4中所述的方法，其特征在于，根据预测的电路辐照性能变化调整电路设计方案，以补偿或减轻由于辐照导致的电路性能下降。

6.根据权利要求1或4中所述的方法，其特征在于，根据预测的电路辐照性能变化估算出电路在实际辐照条件下的使用寿命。

7.一种电路辐照性能仿真设备，其特征在于，包括：

辐照实验装置(601)，用于完成对器件的辐照处理；

数据提取装置(602)，用于提取每种器件的测试数据；

辐照器件模型表达装置(603)，用于建立每种器件的辐照模型；以及

电路仿真预测装置(605)，用于基于为每种器件建立的辐照模型，预测由多个器件组成的电路辐照性能。

8.根据权利要求7中所述的设备，其特征在于，所述数据提取装置(602)分别在对器件辐照前和不同的总剂量辐照后提取每种器件的一组测试数据。

9.根据权利要求7中所述的设备，其特征在于，还包括模型参数提取装置(604)，用于根据所述数据提取装置(602)提取的测试数据、辐照实验装置(601)辐照的总辐照剂量以及辐照器件模型表达装置(603)对每种器件设定的辐照模型，求得该器件的辐照模型参数。

10.根据权利要求9中所述的设备，其特征在于，所述电路仿真预测装置(605)通过软件仿真将构成电路的器件之间逻辑关系用函数表达，然后辐照器件模型表达装置(603)的器件模型以及来自模型参数提取装置(604)的辐照模型参数代入该函数获得电路辐照模型。

11.根据权利要求9中所述的设备，其特征在于，所述电路仿真预测装置(605)仿真该电路在不同总剂量辐照下的输入输出特征曲线，预测所述电路的辐照性能。

12.根据权利要求11中所述的设备，其特征在于，所述辐照性能包括器件在辐照条件下的使用寿命、性能参数漂移方向和程度。