[发明专利]磁控等离子溅射硅薄膜技术无效
申请号: | 201110190732.8 | 申请日: | 2011-07-08 |
公开(公告)号: | CN102867737A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 陈谊浩;刘幼海;刘吉人 | 申请(专利权)人: | 吉富新能源科技(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/203 | 分类号: | H01L21/203;H01L31/18;C23C14/35 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201707 上海市青*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明主要在提供另一种制作硅薄膜太阳能膜层的方法。此发明主要包含power supply、腔体机台本体、matching box、机械帮浦、高速帮浦、加热板。由於一般制作硅薄膜主流之制程技术主要以化学气相沈积法(CVD)为主,其缺点在於系统设备昂贵、且所使用之气体具有毒性,故本发明目的在使用物理气相沈积法(PVD)直接沈积多晶硅,不仅制程容易、且低成本、无污染、无危险性。又微晶硅薄膜太阳能电池之可靠度较佳,且较无光劣化效应之问题,故在成本与可行性方面之考量下,本发明以混通氢氢,并使用反应磁控溅镀之方式成长微晶硅薄膜。 | ||
搜索关键词: | 等离子 溅射 薄膜 技术 | ||
【主权项】:
本发明主要目的在提供另一种制作硅薄膜太阳能膜层的方法。其系统主要包含power supply、腔体机台本体、matching box、机械帮浦、高速帮浦、加热板。目前一般制作硅薄膜主流之制程技术以化学气相沈积法(CVD)为主,但其缺點爲系统设备昂贵、使用之气体具有毒性,故本研究目的在使用物理气相沈积法(PVD)直接沈积多晶硅,不僅制程容易,且低成本、无污染、无危险性。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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