[发明专利]磁控等离子溅射硅薄膜技术无效

专利信息
申请号: 201110190732.8 申请日: 2011-07-08
公开(公告)号: CN102867737A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 陈谊浩;刘幼海;刘吉人 申请(专利权)人: 吉富新能源科技(上海)有限公司
主分类号: H01L21/203 分类号: H01L21/203;H01L31/18;C23C14/35
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201707 上海市青*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 等离子 溅射 薄膜 技术
【权利要求书】:

1.本发明主要目的在提供另一种制作硅薄膜太阳能膜层的方法。其系统主要包含power supply、腔体机台本体、matching box、机械帮浦、高速帮浦、加热板。目前一般制作硅薄膜主流之制程技术以化学气相沈积法(CVD)为主,但其缺點爲系统设备昂贵、使用之气体具有毒性,故本研究目的在使用物理气相沈积法(PVD)直接沈积多晶硅,不僅制程容易,且低成本、无污染、无危险性。

2.根据权利要求1所述射频溅镀系统(RF sputtering system)基本上是使用真空抽气设备,将真空室(chamber)抽至高真空环境中,再充入工作气体(working gas)于真空室内,工作气体一般是氩气,借着互相对应的阴极(靶材)和阳极(基板和真空室壁),施加频率13.56MHz的交流电压于此系统内,使得真空室。

3.根据权利要求1一方面主要在探讨以磁控溅镀方式直接沈积微晶硅薄膜时,各实验參數(例如:电源功率、基板温度、氢气流量)和薄膜结晶情况之关系;另一方面在评估所镀制出的薄膜应用于薄膜太阳能电池之可能性,所以最后还需测量出薄膜导电率,并与现今以电浆增强化学气相沈积法(PECVD)得到之结果做比较。

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