[发明专利]磁控等离子溅射硅薄膜技术无效
| 申请号: | 201110190732.8 | 申请日: | 2011-07-08 |
| 公开(公告)号: | CN102867737A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
| 发明(设计)人: | 陈谊浩;刘幼海;刘吉人 | 申请(专利权)人: | 吉富新能源科技(上海)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/203 | 分类号: | H01L21/203;H01L31/18;C23C14/35 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 201707 上海市青*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 等离子 溅射 薄膜 技术 | ||
1.本发明主要目的在提供另一种制作硅薄膜太阳能膜层的方法。其系统主要包含power supply、腔体机台本体、matching box、机械帮浦、高速帮浦、加热板。目前一般制作硅薄膜主流之制程技术以化学气相沈积法(CVD)为主,但其缺點爲系统设备昂贵、使用之气体具有毒性,故本研究目的在使用物理气相沈积法(PVD)直接沈积多晶硅,不僅制程容易,且低成本、无污染、无危险性。
2.根据权利要求1所述射频溅镀系统(RF sputtering system)基本上是使用真空抽气设备,将真空室(chamber)抽至高真空环境中,再充入工作气体(working gas)于真空室内,工作气体一般是氩气,借着互相对应的阴极(靶材)和阳极(基板和真空室壁),施加频率13.56MHz的交流电压于此系统内,使得真空室。
3.根据权利要求1一方面主要在探讨以磁控溅镀方式直接沈积微晶硅薄膜时,各实验參數(例如:电源功率、基板温度、氢气流量)和薄膜结晶情况之关系;另一方面在评估所镀制出的薄膜应用于薄膜太阳能电池之可能性,所以最后还需测量出薄膜导电率,并与现今以电浆增强化学气相沈积法(PECVD)得到之结果做比较。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





