[发明专利]沟槽式场效应晶体管势垒肖特基器件及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201110176489.4 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102231386A 公开(公告)日: 2011-11-02
发明(设计)人: 王健 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/872;H01L21/329
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种沟槽式场效应晶体管势垒肖特基器件,包括第一导电类型的半导体区;形成于半导体区的多个沟槽,沟槽内设置场效晶体管的栅极;形成于相邻两个沟槽之间的第二导电类型的两个本体区,两个本体区之间为第一导电类型的半导体区;第一导电类型的两个源区,每个源区形成于本体区的上方;凹槽,凹槽形成于两个源区之间,并延伸至两个本体区之间的半导体区,凹槽内填充金属层,金属层与两个本体区之间的半导体区形成肖特基结构;欧姆接触区,欧姆接触区形成于凹槽的两侧,且形成于本体区和源区的交界处。本发明的肖特基器件为高密度肖特基器件,本发明的方法制备工艺简单,成本低。
搜索关键词: 沟槽 场效应 晶体管 势垒肖特基 器件 及其 制备 方法
【主权项】:
一种沟槽式场效应晶体管势垒肖特基器件,其特征在于,包括:第一导电类型的半导体区;形成于所述半导体区的多个沟槽,所述沟槽内设置所述场效晶体管的栅极;形成于相邻两个沟槽之间的第二导电类型的两个本体区,所述两个本体区之间为所述第一导电类型的半导体区;第一导电类型的两个源区,每个所述源区形成于所述本体区的上方;凹槽,所述凹槽形成于所述两个源区之间,并延伸至所述两个本体区之间的所述半导体区,所述凹槽内填充金属层,所述金属层与所述两个本体区之间的所述半导体区形成肖特基结构;第二导电类型的欧姆接触区,所述欧姆基接触区形成于所述凹槽的两侧,且形成于所述本体区和所述源区的交界处。
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