[发明专利]n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器及制备方法无效
| 申请号: | 201110176236.7 | 申请日: | 2011-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN102280515A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
| 发明(设计)人: | 于永强;揭建胜;蒋阳;朱志峰;江鹏 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
| 主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18;B82Y30/00 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
| 地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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| 摘要: | 本发明公开了n型掺杂ZnS准一维纳米结构光电导型紫外探测器及制备方法,其特征是紫外探测器自上而下依次由叉指电极,n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜和绝缘衬底迭置而成。本发明紫外探测器以n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜为紫外敏感层,使其只对小于335nm波长光敏感,利用透明叉指电极和纳米结构薄膜增强了受光面积,提高了紫外光响应度,同时使用ZnS做为光敏材料,环保可靠。本发明结构简单,灵敏度高,成本低,易于实现。 | ||
| 搜索关键词: | 掺杂 zns 准一维 纳米 结构 薄膜 电导 紫外 探测器 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述紫外探测器自上而下依次由叉指电极(1),n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜(2)和绝缘衬底(3)迭置而成。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





