[发明专利]n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器及制备方法无效
| 申请号: | 201110176236.7 | 申请日: | 2011-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN102280515A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
| 发明(设计)人: | 于永强;揭建胜;蒋阳;朱志峰;江鹏 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
| 主分类号: | H01L31/09 | 分类号: | H01L31/09;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18;B82Y30/00 |
| 代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
| 地址: | 230009 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 掺杂 zns 准一维 纳米 结构 薄膜 电导 紫外 探测器 制备 方法 | ||
1.一种n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述紫外探测器自上而下依次由叉指电极(1),n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜(2)和绝缘衬底(3)迭置而成。
2.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述叉指电极(1)为ITO电极或AZO电极。
3.根据权利要求1或2所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征所述叉指电极(1)的宽度为10μm-100μm,厚度为50nm-200nm,叉指电极(1)相邻电极之间的间距为5μm-100μm。
4.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜(2)中的n型掺杂ZnS是指Cl、Al、Ga或In掺杂ZnS。
5.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述绝缘衬底(3)为石英玻璃、或为表面长有氧化硅的硅片、或为表面镀有氮化硅的硅片。
6.一种权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器的制备方法,其特征在于按如下步骤进行:
a、用酒精或丙酮挥发性溶剂为分散液,将n型掺杂ZnS准一维纳米材料加入分散液中,超声震荡使n型掺杂ZnS准一维纳米材料均匀悬浮在分散液中;
b、将含有n型掺杂ZnS准一维纳米材料的分散液旋涂在绝缘衬底(3)上,经挥发形成ZnS纳米结构薄膜(2);
c、利用光刻方法在涂有ZnS纳米结构薄膜(2)的衬底上光刻出叉指电极(1)的图形;
d、通过磁控溅射或脉冲激光沉积方法在叉指电极(1)的图形上制备形成叉指电极(1)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥工业大学,未经合肥工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201110176236.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:新型汽车保险装置
- 下一篇:汽车智能传感电子后视装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





