[发明专利]n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器及制备方法无效

专利信息
申请号: 201110176236.7 申请日: 2011-06-28
公开(公告)号: CN102280515A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 于永强;揭建胜;蒋阳;朱志峰;江鹏 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: H01L31/09 分类号: H01L31/09;H01L31/0296;H01L31/0224;H01L31/18;B82Y30/00
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230009 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 掺杂 zns 准一维 纳米 结构 薄膜 电导 紫外 探测器 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述紫外探测器自上而下依次由叉指电极(1),n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜(2)和绝缘衬底(3)迭置而成。

2.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述叉指电极(1)为ITO电极或AZO电极。

3.根据权利要求1或2所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征所述叉指电极(1)的宽度为10μm-100μm,厚度为50nm-200nm,叉指电极(1)相邻电极之间的间距为5μm-100μm。

4.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜(2)中的n型掺杂ZnS是指Cl、Al、Ga或In掺杂ZnS。

5.根据权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器,其特征是所述绝缘衬底(3)为石英玻璃、或为表面长有氧化硅的硅片、或为表面镀有氮化硅的硅片。

6.一种权利要求1所述的n型掺杂ZnS准一维纳米结构薄膜光电导型紫外探测器的制备方法,其特征在于按如下步骤进行:

a、用酒精或丙酮挥发性溶剂为分散液,将n型掺杂ZnS准一维纳米材料加入分散液中,超声震荡使n型掺杂ZnS准一维纳米材料均匀悬浮在分散液中;

b、将含有n型掺杂ZnS准一维纳米材料的分散液旋涂在绝缘衬底(3)上,经挥发形成ZnS纳米结构薄膜(2);

c、利用光刻方法在涂有ZnS纳米结构薄膜(2)的衬底上光刻出叉指电极(1)的图形;

d、通过磁控溅射或脉冲激光沉积方法在叉指电极(1)的图形上制备形成叉指电极(1)。

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