[发明专利]唤醒信号测试系统及其测试卡

摘要

一种唤醒信号测试系统，用于对一南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，示波器连接至南北桥集成芯片，测试卡包括一板体、一金手指及一开关按钮，金手指用于插接于一PCIE插槽，金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，开关按钮连接在第一接地引脚与第一唤醒信号引脚之间，当金手指插接于PCIE插槽时，第一接地引脚对应连接至PCIE插槽的第二接地引脚，第一唤醒信号引脚对应连接至PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下开关按钮，第一唤醒信号引脚连接至第一接地引脚以输出一低电平信号至南北桥集成芯片来唤醒待测主板。本发明实现了便捷、准确地对南北桥集成芯片的唤醒信号测试。

主权项

一种唤醒信号测试系统，用于对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，所述示波器连接至所述南北桥集成芯片的唤醒引脚以显示所述低电平信号的波形状况。