[发明专利]唤醒信号测试系统及其测试卡

说明书

技术领域

本发明涉及一种唤醒信号测试系统及其测试卡。

背景技术

在开发电脑时需要对电脑芯片如南北桥集成芯片的电气特性做信号完整性测试，以确保该芯片设计符合设计要求。南北桥集成芯片的电气特征的信号完整性测试包括对南北桥集成芯片的唤醒信号的测试。通常在对南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试时，需要一控制机台通过网络发送一个唤醒信号至一处于休眠状态的待测主板上的网卡使该网卡输出一低电平信号来唤醒该休眠的待测主板上，再通过一连接至该南北桥集成芯片的示波器显示该唤醒电压波形。但是，这样的测试方式需要对该控制机台进行设置，且通过控制网卡发送的唤醒信号会受到网卡的影响，如网卡品质不好，唤醒信号会出现非单调等异常现象，从而造成测试结果不准确。

发明内容

鉴于上述内容，有必要提供一种唤醒信号测试系统及其测试卡，以便捷、准确地对唤醒信号进行测试。

一种唤醒信号测试系统，用于对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述唤醒信号测试系统包括一测试卡及一示波器，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，所述示波器连接至所述南北桥集成芯片的唤醒引脚以显示所述低电平信号的波形状况。

一种测试卡，用于辅助对一待测主板的南北桥集成芯片的唤醒信号进行测试，所述测试卡包括一板体、一设置在所述板体一侧的金手指及一设置在所述板体上的开关按钮，所述金手指用于插接于所述待测主板上的一连接所述南北桥集成芯片的PCIE插槽，所述金手指包括一第一接地引脚及一第一唤醒信号引脚，所述第一接地引脚连接至所述开关按钮的第一端，所述第一唤醒信号引脚连接至所述开关按钮的第二端，当所述金手指插接于所述PCIE插槽时，所述第一接地引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二接地引脚，所述第二唤醒信号引脚对应连接至所述PCIE插槽的第二唤醒信号引脚，当按下所述开关按钮，所述第一唤醒信号引脚连接至所述第一接地引脚以输出一低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板。

本发明唤醒信号测试系统通过按下所述测试卡上的开关按钮将所述测试卡上的唤醒信号引脚连接至其接地引脚，使所述唤醒信号引脚通过所述PCIE插槽的唤醒信号引脚输出所述低电平信号至所述南北桥集成芯片来唤醒所述待测主板，从而实现了便捷准确地对所述南北桥集成芯片的唤醒信号的测试。

附图说明

下面参照附图结合较佳实施方式对本发明作进一步详细描述：

图1为本发明唤醒信号测试系统的较佳实施方式的示意图。

图2为图1的唤醒信号测试卡的示意图。

主要元件符号说明