[发明专利]芯片测试方法及装置有效
| 申请号： | 201110138808.2 | 申请日： | 2011-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN102305906A | 公开（公告）日： | 2012-01-04 |
| 发明（设计）人： | 隋立涛;王永清 | 申请（专利权）人： | 青岛海信移动通信技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 266100 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种芯片测试方法及装置，涉及终端测试领域，能够在一个测试环境下实现各种芯片和模块的测试，达到统一管理各种芯片测试的目的。本发明的方法包括：检测是否有外接设备接入boot模块：若检测到有外接设备接入所述boot模块，则检测是否有数据输入所述boot模块；若检测到有数据输入所述boot模块，则读取输入的数据，并判断所述输入的数据是否为芯片测试模式启动命令；若所述输入的数据为芯片测试模式启动命令，则进入芯片测试模式界面，接收用户输入的芯片测试命令，根据所述芯片测试命令执行相应的芯片测试，并将芯片测试结果输出。本发明实施例主要用于终端产品上的芯片测试过程中。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种芯片测试方法，其特征在于，包括：检测是否有外接设备接入boot模块；若检测到有外接设备接入所述boot模块，则检测是否有数据输入所述boot模块；若检测到有数据输入所述boot模块，则读取输入的数据，并判断所述输入的数据是否为芯片测试模式启动命令；若所述输入的数据为芯片测试模式启动命令，则进入芯片测试模式界面，接收用户输入的芯片测试命令，根据所述芯片测试命令执行相应的芯片测试，并将芯片测试结果输出。
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