[发明专利]一种大规模集成电路测试人力成本管理方法

摘要

本发明属于大规模集成电路设计验证的电子设计自动化领域，特别涉及一种大规模集成电路设计验证测试人力成本管理方法。本发明对测试过程中，人力成本受限和追求快速最大功能覆盖率指标之间的矛盾问题，解决管理者如何分配每项测试改进的量化指标，才能达到人力成本的最佳利用，使得测试的功能覆盖率快速达到最高。本发明将功能覆盖率和磁盘用量信息建模为时间的幂函数，基于几何规划方法得出最大功能覆盖率的最优解γ^*和γ^*关于约束β_iγ^*0≤β_i≤1的灵敏度(i＝1，2，…，N)，N代表回归测试的数目，将每项测试人力成本建模为改进量化指标的幂函数，最终将最优人力资源管理问题转化为几何规划问题，由此求得每项测试需改进的最优量化指标及改进后的最大功能覆盖率最优值。

主权项

1.一种大规模集成电路测试人力成本管理方法，此方法的实现步骤为：1)运行各个回归测试，收集功能覆盖率，将其建模为时间t的幂函数：(i＝1，2，…，N)，其中系数c_i，x_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；2)运行各个回归测试，收集磁盘用量信息，将其建模为时间t的幂函数：(i＝1，2，…，N)，其中系数s_i，y_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；3)RTL代码进行少量改动时，由设计人员提供一组加权参数β_i(i＝1，2，…，N)，取作0≤β_i≤1，表示模块与本次RTL代码改动的相关程度；4)管理者给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S；5)用凸优化软件包求解几何规划问题：maxti>0,γ>0γ]]>s.t.(i＝1，2，…，N)t₁+t₂+…+t_N≤Ts1t1y1+s2t2y2+...+sNtNyN≤S]]>得到最大的功能覆盖率γ^*和每个测试的最优运行时间给出了最优解γ^*关于各个约束的灵敏度，对于N个覆盖率约束β_iγ(i＝1，2，…，N)，最优解γ^*关于约束β_iγ^*(i＝1，2，…，N)的灵敏度记为(i＝1，2，…，N)；6)当β_iγ^*≥ξ_i(i＝1，2，…，N)，整体的最大功能覆盖率将从γ^*变大到其中为常数且ρ＞0，将每项测试的人力成本建模为其中ε_i，δ_i分别为正实数和实数，由测试人员向管理者给出ε_i，δ_i的参考值，管理者根据提供的参考值和实际情况最终决定ε_i，δ_i取值，总的人力成本上限C由管理者决定，最优人力资源管理问题表述为以下几何规划：maxξi>0ρΠi=1Nξi-λi*]]>s.t.ζ_i≤β_iγ^*(i＝1，2，…，N)Σi=1Nϵi(βiγ*ξi)δi≤C]]>7)根据第6步求得的每项测试需改进的量化指标的最优解ξ_i^*，管理者将测试任务分配给测试人员，测试人员进行测试改进，其结果是使c_i，x_i变大，变大为其中为大于1的实数，测试改进程度是否满足要求，由下式判断βiγ*-ξi*≤∂fi∂ci|(ci,xi)ci(Δci-1)+∂fi∂xi|(ci,xi)xi(Δxi-1)]]>=ci(ti*)xi[(Δci-1)+log(ti*)xi(Δxi-1)]]]>只要成立了，说明测试改进满足要求，就可以停止了，且此次测试改进的参数作为下一次进行人力资源管理，第1步表达式(i＝1，2，…，N)系数c_i，x_i的更新值。