[发明专利]一种大规模集成电路测试人力成本管理方法

权利要求书

1.一种大规模集成电路测试人力成本管理方法，此方法的实现步骤为：

1)运行各个回归测试，收集功能覆盖率，将其建模为时间t的幂函数：(i＝1，2，…，N)，其中系数c_i，x_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；

2)运行各个回归测试，收集磁盘用量信息，将其建模为时间t的幂函数：(i＝1，2，…，N)，其中系数s_i，y_i分别是正实数与实数，自然数N代表回归测试的数目；

3)RTL代码进行少量改动时，由设计人员提供一组加权参数β_i(i＝1，2，…，N)，取作0≤β_i≤1，表示模块与本次RTL代码改动的相关程度；

4)管理者给出可用的总计算时间上限T及总磁盘用量上限S；

5)用凸优化软件包求解几何规划问题：

maxti>0,γ>0γ]]>

s.t.(i＝1，2，…，N)

t₁+t₂+…+t_N≤T

s1t1y1+s2t2y2+...+sNtNyN≤S]]>

得到最大的功能覆盖率γ^*和每个测试的最优运行时间给出了最优解γ^*关于各个约束的灵敏度，对于N个覆盖率约束β_iγ(i＝1，2，…，N)，最优解γ^*关于约束β_iγ^*(i＝1，2，…，N)的灵敏度记为(i＝1，2，…，N)；

6)当β_iγ^*≥ξ_i(i＝1，2，…，N)，整体的最大功能覆盖率将从γ^*变大到其中为常数且ρ＞0，将每项测试的人力成本建模为其中ε_i，δ_i分别为正实数和实数，由测试人员向管理者给出ε_i，δ_i的参考值，管理者根据提供的参考值和实际情况最终决定ε_i，δ_i取值，总的人力成本上限C由管理者决定，最优人力资源管理问题表述为以下几何规划：

maxξi>0ρΠi=1Nξi-λi*]]>

s.t.ζ_i≤β_iγ^*(i＝1，2，…，N)

Σi=1Nϵi(βiγ*ξi)δi≤C]]>

7)根据第6步求得的每项测试需改进的量化指标的最优解ξ_i^*，管理者将测试任务分配给测试人员，测试人员进行测试改进，其结果是使c_i，x_i变大，变大为其中为大于1的实数，

测试改进程度是否满足要求，由下式判断

βiγ*-ξi*≤∂fi∂ci|(ci,xi)ci(Δci-1)+∂fi∂xi|(ci,xi)xi(Δxi-1)]]>

=ci(ti*)xi[(Δci-1)+log(ti*)xi(Δxi-1)]]]>

只要成立了，说明测试改进满足要求，就可以停止了，且此次测试改进的参数作为下一次进行人力资源管理，第1步表达式(i＝1，2，…，N)系数c_i，x_i的更新值。