[发明专利]通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺无效
| 申请号: | 201110123644.6 | 申请日: | 2011-05-13 |
| 公开(公告)号: | CN102420169A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
| 发明(设计)人: | 李磊;胡友存;陈玉文;姬峰;张亮 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | 本发明通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺解决了现有技术中无法在不增加工艺步骤、延长工艺周期的前提下达到控制通孔刻蚀高深宽比和通孔尺寸控制的问题,本发明使用在先制作的通孔中填充易于在沟槽刻蚀过程中灰化去除的牺牲材料的方法,实现超厚顶层金属双大马士革制造工艺,本发明具有有利于工艺控制,减少工艺步骤,缩短生产周期的技术效果。 | ||
| 搜索关键词: | 填充 牺牲 材料 顶层 金属 大马士革 工艺 | ||
【主权项】:
一种通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,在基体的已完成的前层金属层上依次淀积一第一介电阻挡层、一第一介电层;旋涂光刻胶,并光刻形成通孔图形;通过干法刻蚀在第一介电层形成通孔,部分第一介电阻挡层被刻蚀,使所述通孔止于所述第一介电阻挡层,并去除剩余的光刻胶;旋涂牺牲材料填充通孔;去除通孔外的牺牲材料;淀积第二介电层;在第二介电层上旋涂光刻胶,光刻形成沟槽图形;通过干法刻蚀形成沟槽;去除残留光阻和通孔内的牺牲材料;进行干法刻蚀,以打开通孔底部的第一介电阻挡层直至通孔接触到其底部的前层金属层;淀积金属阻挡层和铜籽晶层;将电镀铜填满通孔和沟槽;进行化学机械研磨平坦化工艺,以去除多余金属。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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