[发明专利]通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺无效
| 申请号: | 201110123644.6 | 申请日: | 2011-05-13 |
| 公开(公告)号: | CN102420169A | 公开(公告)日: | 2012-04-18 |
| 发明(设计)人: | 李磊;胡友存;陈玉文;姬峰;张亮 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
| 地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 填充 牺牲 材料 顶层 金属 大马士革 工艺 | ||
1.一种通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,在基体的已完成的前层金属层上依次淀积一第一介电阻挡层、一第一介电层;旋涂光刻胶,并光刻形成通孔图形;通过干法刻蚀在第一介电层形成通孔,部分第一介电阻挡层被刻蚀,使所述通孔止于所述第一介电阻挡层,并去除剩余的光刻胶;旋涂牺牲材料填充通孔;去除通孔外的牺牲材料;淀积第二介电层;在第二介电层上旋涂光刻胶,光刻形成沟槽图形;通过干法刻蚀形成沟槽;去除残留光阻和通孔内的牺牲材料;进行干法刻蚀,以打开通孔底部的第一介电阻挡层直至通孔接触到其底部的前层金属层;淀积金属阻挡层和铜籽晶层;将电镀铜填满通孔和沟槽;进行化学机械研磨平坦化工艺,以去除多余金属。
2.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过干法刻蚀形成的沟槽止于所述第一介电层。
3.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,完成所述第一介电层的淀积后,在所述第一介电层上淀积一第二介电阻挡层。
4.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,所述牺牲材料采用的是填充能力好、耐高温、稳定性强、易于去除的材料。
5.根据权利要求1或4所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,所述牺牲材料采用聚酰亚胺。
6.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过使用含氧的等离子体刻蚀以去除通孔外的牺牲材料。
7.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,采用化学机械研磨去除通孔外的牺牲材料。
8.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过化学气相淀积硅氧化物以形成所述第一介电层和所述第二介电层。
9.根据权利要求3所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过化学气相淀积工艺形成所述第一介电阻挡层和所述第二介电阻挡层,淀积形成所述第一介电阻挡层和所述第二介电阻挡层的材料从SiN、SiC、SiCN中选取。
10.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,所述第二介电层的厚度大于等于3微米。
11.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,进行等离子体刻蚀,以去除残留光阻和通孔内的牺牲材料。
12.根据权利要求11所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,采用含氧的等离子体刻蚀工艺,以去除通孔内的牺牲材料。
13.根据权利要求11所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过对所述牺牲材料选择比高的湿法刻蚀去除通孔内的牺牲材料。
14.根据权利要求3所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,通过干法刻蚀在第二介电阻挡层、第一介电层形成通孔,部分第一介电阻挡层被刻蚀。
15.根据权利要求1所述的通孔填充牺牲材料的超厚顶层金属双大马士革工艺,其特征在于,所述前层金属层的材质为铜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





