[发明专利]荧光板电子束成像系统对高能电子束电量响应的标定方法无效
| 申请号： | 201110123469.0 | 申请日： | 2011-05-13 |
| 公开（公告）号： | CN102207462A | 公开（公告）日： | 2011-10-05 |
| 发明（设计）人： | 夏长权;刘建胜;邓爱华;徐建彩;王文涛;卢海洋;王成;徐至展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/66 | 分类号： | G01N21/66 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种荧光板电子束成像系统对高能电子束电量响应的标定方法，该方法是将成像系统的荧光板的电子入射面覆盖一层电子成像板，并将能谱连续分布的高能量大发散角的电子束通过铝板滤掉低能量电子后同时辐照在电子成像板和荧光板上，利用所述的CCD探测器记录电子束通过电子成像板和电子束通过荧光板上同等面积的计数值；通过已知的电子成像板获得电量信息，从而确定荧光板计数值与电量的对应关系。利用本方法可以对激光尾波场加速实验中的荧光板电子束成像系统进行简单的电量响应标定，而无需标准电子束源。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 电子束 成像 系统 高能 电量 响应 标定 方法 | ||
【主权项】：
一种荧光板电子束成像系统对高能电子束电量响应的标定方法，其特征是该方法包括下列步骤：①在荧光板(3)上的电子入射面上紧贴覆盖一层电子成像板(4)，在荧光板(3)和电子成像板(4)之前设置一块铝板(2)，在所述的荧光板(3)和电子成像板(4)之后设置CCD探测器(6)；②将待测的高能量大发散角电子束同时辐照在电子成像板(4)和荧光板(3)的交界处；③利用所述的CCD探测器(6)记录电子束通过电子成像板(4)和电子束通过荧光板(3)上同等面积的计数值；④利用电子成像板对电子束的响应是已知的，通过计算和比较，得到荧光板电子成像系统对高能电子束电量响应的关系；⑤改变电子束(1)的能量，重复步骤②③④，形成荧光板电子成像系统对高能电子束电量响应的关系曲线。
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