[发明专利]光掩模及其制造方法无效
申请号: | 201110080340.6 | 申请日: | 2011-03-31 |
公开(公告)号: | CN102207675A | 公开(公告)日: | 2011-10-05 |
发明(设计)人: | 吉田光一郎 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;G03F7/00;G02F1/1343 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及光掩模及其制造方法。一种光掩模,其以如下方式形成:针对形成于待蚀刻加工的被加工体上的抗蚀剂膜,进行转印图案部的图案的转印,使抗蚀剂膜成为作为所述蚀刻加工中的掩模的抗蚀剂图案。在所述转印图案部中,设置有通过对形成在透明基板上的半透光膜进行构图而形成的透光部和半透光部。在透明基板的与所述转印图案部不同的区域中,设置由遮光膜形成的标记图案形成部。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种光掩模,其用于液晶显示装置的制造,该光掩模具有用于转印到抗蚀剂膜上的转印图案,所述抗蚀剂膜形成在待蚀刻加工的被加工体上,该光掩模的特征在于,在所述光掩模的转印区域中具有由透光部和半透光部构成的包含线与间隙图案的转印图案,该转印图案是通过对形成在透明基板上的半透光膜进行构图而得到的,在所述光掩模的转印区域外,具有对形成在所述透明基板上的遮光膜进行构图而得到的标记图案。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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