[发明专利]热电式光检测器、热电式光检测装置以及电子设备无效
| 申请号： | 201110069894.6 | 申请日： | 2011-03-22 |
| 公开（公告）号： | CN102200473A | 公开（公告）日： | 2011-09-28 |
| 发明（设计）人： | 野田贵史;泷泽顺 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G01J1/02 | 分类号： | G01J1/02 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种热电式光检测器及热电式光检测装置，该热电式光检测器包括：电容器，在第一电极与第二电极之间包括热电体，且极化量随温度而变化；支撑部件，包括第一面和与第一面相对的第二面，第一面面对空腔部，在第二面上安装并支撑电容器；以及固定部，用于支撑支撑部件。配置在支撑部件上的第一电极的热导率G1小于第二电极的热导率G2(G1＜G2)。 | ||
| 搜索关键词： | 热电 检测器 检测 装置 以及 电子设备 | ||
【主权项】：
一种热电式光检测器，其特征在于，包括：电容器，在第一电极与第二电极之间包括热电体，且极化量随温度而变化；支撑部件，包括第一面和与所述第一面相对的第二面，所述第一面面对空腔部，在所述第二面上安装并支撑所述电容器；以及固定部，用于支撑所述支撑部件，其中，配置在所述第二面上的所述第一电极的热导率小于所述第二电极的热导率。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于精工爱普生株式会社，未经精工爱普生株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201110069894.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：介质处理装置的间隙控制方法及介质处理装置
- 下一篇：多片式基板及其制造方法
