[发明专利]一种RFID阅读器天线性能的测试方法及系统无效

专利信息
申请号: 201110050573.1 申请日: 2011-03-03
公开(公告)号: CN102213750A 公开(公告)日: 2011-10-12
发明(设计)人: 叶永嘉 申请(专利权)人: 叶永嘉
主分类号: G01R33/02 分类号: G01R33/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100102 北京市朝阳区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种RFID阅读器天线性能的测试方法及系统,属于射频识别技术领域。具体测试方法为设计一个方格测试板,将被测阅读器正面向上放到测试支架中,方格板方格面向上水平放置在阅读器上;将测试探头依次放置于方格板的每个方格内,通过场强测试仪读出各点磁场强度数值并做记录,从而得知RFID阅读器天线在自由空间中的性能。设计的测试系统包括三凹槽测试架、方格盖板、测试探头和场强测试仪;方格盖板放置在三凹槽测试架的第三凹槽中形成密闭结构。本发明能够有效地应用于阅读器上方一定距离平面上的电磁场分布的读取,可方便灵活地测得其可靠工作区和方向灵敏度;可以应用到RFID测试领域,特别是在移动支付应用中。
搜索关键词: 一种 rfid 阅读器 天线 性能 测试 方法 系统
【主权项】:
一种RFID阅读器天线性能的测试方法,其特征在于:具体包括如下步骤:步骤1,设计一个方格测试板,每个方格的尺寸等同于测试探头的尺寸,在测试过程中,规定对角线一端的方格记为第一个测试点,另一端的方格记为最后一个测试点;步骤2,将被测阅读器正面向上放到测试支架中,在阅读器上方放置步骤1设计的方格板,方格面向上水平放置;测试探头和场强测试仪连接,进入测试准备状态;步骤3,在步骤2的基础上,将测试探头放置于方格板的第一个方格内,通过场强测试仪读出该点的磁场强度数值并做记录;步骤4,在步骤3的基础上,将测试探头放置于与第一方格邻近的横向第二方格,读出该点的磁场强度数值并做记录,并依次测试完第一横排的所有方格;步骤5,在步骤4的基础上,将测试探头放置于第一方格邻近的纵向第二方格,读出该点的磁场强度数值并做记录,并依次测试完第二横排的所有方格;步骤6,依步骤5的方法类推,依次测试完所有横排的方格,读出磁场强度数值并做记录;直到测试完最后一个测试点;根据所测得的数据对阅读器上方一定距离的工作平面内磁场强度的分布进行分析,从而得知RFID阅读器天线在自由空间中的性能。
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