[发明专利]一种RFID阅读器天线性能的测试方法及系统

权利要求书

1.一种RFID阅读器天线性能的测试方法，其特征在于：具体包括如下步骤：

步骤1，设计一个方格测试板，每个方格的尺寸等同于测试探头的尺寸，在测试过程中，规定对角线一端的方格记为第一个测试点，另一端的方格记为最后一个测试点；

步骤2，将被测阅读器正面向上放到测试支架中，在阅读器上方放置步骤1设计的方格板，方格面向上水平放置；测试探头和场强测试仪连接，进入测试准备状态；

步骤3，在步骤2的基础上，将测试探头放置于方格板的第一个方格内，通过场强测试仪读出该点的磁场强度数值并做记录；

步骤4，在步骤3的基础上，将测试探头放置于与第一方格邻近的横向第二方格，读出该点的磁场强度数值并做记录，并依次测试完第一横排的所有方格；

步骤5，在步骤4的基础上，将测试探头放置于第一方格邻近的纵向第二方格，读出该点的磁场强度数值并做记录，并依次测试完第二横排的所有方格；

步骤6，依步骤5的方法类推，依次测试完所有横排的方格，读出磁场强度数值并做记录；直到测试完最后一个测试点；

根据所测得的数据对阅读器上方一定距离的工作平面内磁场强度的分布进行分析，从而得知RFID阅读器天线在自由空间中的性能。

2.根据权利要求1所述的一种RFID阅读器天线性能的测试方法，其特征在于：所述步骤3到步骤6中用测试探头对磁场强度的测试也适用于对电场强度的测试。

3.根据权利要求1所述的一种RFID阅读器天线性能的测试方法，其特征在于：将电子标签或集成有电子标签的移动终端叠放在测试探头上，重复步骤3到步骤6，测试得到阅读器在有电子标签耦合情况下的电磁场分布。

4.一种RFID阅读器天线性能的测试系统，其特征在于：包括三凹槽测试架、方格盖板、测试探头和场强测试仪；

所述的三凹槽测试架采用低散射材料制作，保持阅读器天线面水平；测试架为中心有三层凹槽的立体结构，从最底层向上分别为第一凹槽、第二凹槽和第三凹槽，第二凹槽边沿位于第一凹槽边沿和第三凹槽边沿的中间；第三凹槽的两侧槽壁中间分别凿有一个小槽；第二凹槽用于放置RFID阅读器，阅读器的背面结构置于第一凹槽内，第一凹槽底部设有电源线出口；

所述的方格盖板采用低散射材料制作，其长宽与第三凹槽的长宽一样；其向上面画有n×m个方格(n、m为任意整数)；每个方格的尺寸和测试探头尺寸相同；

所述的测试探头为普通的RFID天线探头，符合ISO14443标准，用于耦合阅读器天线发射信号；

所述的场强测试仪为普通的电磁场强测试仪；

上述各组成部分的连接关系为：方格盖板的方格面向上放置在三凹槽测试架的第三凹槽中形成密闭结构，测试探头与场强测试仪相连，探头在盖板上移动进行场强测试。

5.根据权利要求4所述的一种RFID阅读器天线性能的测试系统，其特征在于：所述的方格盖板厚度根据实际测试要求设定。