[发明专利]一种珠宝内部结构检测装置无效

专利信息
申请号: 201110046369.2 申请日: 2006-03-14
公开(公告)号: CN102183491A 公开(公告)日: 2011-09-14
发明(设计)人: 王辉;何永红;马辉 申请(专利权)人: 王辉;何永红;马辉
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01B11/06
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 518000 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明适用于珠宝内部结构检测技术,提供了一种非接触型珠宝内部结构检测装置,包括光源组件、分光器、参考臂反射镜、光电探测器、信号处理分析器、参考臂反射镜扫描装置以及样器臂光束扫描装置,其中,参考臂反射镜固定在可往复移动的参考臂反射镜扫描装置上,光源组件与分光器输入端之间、分光器两个输出端与参考臂反射镜和待测珠宝之间、分光器的干涉光输出端与光电探测器之间均采用光学连接,光电探测器输出端连接电信号处理分析器。本发明利用光学干涉原理,将很弱的珠宝内部结构的背向散射光与较强的参考光产生干涉,通过探测干涉光信号来探测珠宝内部的结构,大大提高了检测信噪比和灵敏度。
搜索关键词: 一种 珠宝 内部结构 检测 装置
【主权项】:
一种珠宝内部结构检测装置,其特征在于:包括光源组件、分光器、参考臂反射镜、光电探测器、信号处理分析器、参考臂反射镜扫描装置以及样器臂光束扫描装置,其中,参考臂反射镜固定在可往复移动的参考臂反射镜扫描装置上,光源组件与分光器输入端之间、分光器两个输出端与参考臂反射镜和待测珠宝之间、分光器的干涉光输出端与光电探测器之间均采用光学连接,光电探测器输出端连接电信号处理分析器;所述光源组件发出的光通过所述分光器分为参考臂光束和样品臂光束两束,其中,参考臂光束射向所述参考臂反射镜,样品臂光束射向待测珠宝;当所述参考臂反射镜扫描时,产生光程变化并调制,从珠宝内部不同深度处的背向散射光和来自所述参考臂反射镜的反射光返回到所述分光器处叠加发生干涉,产生干涉光信号;所述的干涉光信号从所述分光器射出后由所述光电探测器接收,并转换成干涉光电信号;所述信号处理分析器接收所述的干涉光电信号,经放大、处理得到珠宝内部纵深方向的一维反射光强信号;所述样器臂光束扫描装置对珠宝扫描后得到珠层二维图像。
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