[发明专利]一种珠宝内部结构检测装置无效
| 申请号: | 201110046369.2 | 申请日: | 2006-03-14 |
| 公开(公告)号: | CN102183491A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
| 发明(设计)人: | 王辉;何永红;马辉 | 申请(专利权)人: | 王辉;何永红;马辉 |
| 主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;G01B11/06 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 何青瓦 |
| 地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 珠宝 内部结构 检测 装置 | ||
1.一种珠宝内部结构检测装置,其特征在于:包括光源组件、分光器、参考臂反射镜、光电探测器、信号处理分析器、参考臂反射镜扫描装置以及样器臂光束扫描装置,其中,参考臂反射镜固定在可往复移动的参考臂反射镜扫描装置上,光源组件与分光器输入端之间、分光器两个输出端与参考臂反射镜和待测珠宝之间、分光器的干涉光输出端与光电探测器之间均采用光学连接,光电探测器输出端连接电信号处理分析器;
所述光源组件发出的光通过所述分光器分为参考臂光束和样品臂光束两束,其中,参考臂光束射向所述参考臂反射镜,样品臂光束射向待测珠宝;当所述参考臂反射镜扫描时,产生光程变化并调制,从珠宝内部不同深度处的背向散射光和来自所述参考臂反射镜的反射光返回到所述分光器处叠加发生干涉,产生干涉光信号;所述的干涉光信号从所述分光器射出后由所述光电探测器接收,并转换成干涉光电信号;所述信号处理分析器接收所述的干涉光电信号,经放大、处理得到珠宝内部纵深方向的一维反射光强信号;所述样器臂光束扫描装置对珠宝扫描后得到珠层二维图像。
2.如权利要求1所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,所述光源组件是时间相干性低的光源,相干长度为0.5微米到1厘米之间。
3.如权利要求1或2所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,所述光源组件包括发光件及其驱动电路,该发光件是超辐射发光二极管、或发光二极管、或红外发光管。
4.如权利要求1所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,所述分光器为分光棱镜、或镀膜分光片、或光纤藕合器。
5.如权利要求1所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,所述光电探测器是光电二极管或雪崩二极管或CCD器件。
6.如权利要求1所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,所述信号处理分析器包括放大电路、滤波电路、模数转换器以及计算机,滤波器连接于放大电路输出端,滤波电路的输出接模数转换器的输入端,模数转换器的数字输出端连接计算机的输入端。
7.如权利要求1所述的珠宝内部结构检测装置,其特征在于,各组件之间通过光纤连接,用以传导检测光。
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