[发明专利]铜铟镓硒薄膜的制造方法有效
| 申请号: | 201110026730.5 | 申请日: | 2011-01-20 |
| 公开(公告)号: | CN102157611A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
| 发明(设计)人: | 周光廷;黄明义;吴一凡;林汉涂 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/032 |
| 代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;鲍俊萍 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种铜铟镓硒薄膜的制造方法,包括于基板上形成结晶诱发层,于结晶诱发层上形成第一前驱金属层。第一前驱金属层的材质包括铜、铟以及镓。然后,透过升温工艺使结晶诱发层与第一前驱金属层硒化为一铜铟镓硒薄膜。本发明的铜铟镓硒薄膜的制造方法主要是通过形成一结晶诱发层以使特定厚度的铜铟镓硒薄膜能够在较短时间下制作完成,且此铜铟镓硒薄膜具有良好的结晶质量。 | ||
| 搜索关键词: | 铜铟镓硒 薄膜 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种铜铟镓硒薄膜的制造方法,其特征在于,包括:于一基板上形成一结晶诱发层;于该结晶诱发层上形成一第一前驱金属层,该第一前驱金属层的材质包括铜、铟以及镓;以及通过升温工艺使该结晶诱发层与该第一前驱金属层硒化为一铜铟镓硒薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的





