[发明专利]一种剥离发光二极管衬底的方法有效
| 申请号: | 201110024096.1 | 申请日: | 2011-01-21 |
| 公开(公告)号: | CN102117869A | 公开(公告)日: | 2011-07-06 |
| 发明(设计)人: | 林素慧;许圣贤;彭康伟;郑建森;吴志强;林科闯 | 申请(专利权)人: | 厦门市三安光电科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 361009 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种剥离发光二极管衬底的方法,通过对GaN外延层侧面进行腐蚀,形成孔洞型结构,配合外延生长的非填满型图形化蓝宝石衬底,使GaN外延层与蓝宝石衬底分离。本发明可以有效地降低GaN基外延生长中的位错密度,提高晶格质量,且能快速剥离蓝宝石衬底,具有成本低、不会造成GaN薄膜内伤、改善光电器件的性能、提高发光效率的优点。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 剥离 发光二极管 衬底 方法 | ||
【主权项】:
一种剥离发光二极管衬底的方法,包含下列步骤:提供一蓝宝石衬底;在衬底表面上形成呈周期性分布的图形化结构;在图形化蓝宝石衬底上镀一阻挡层,采用研磨工艺使第一阻挡层表面与图形化蓝宝石衬底凸起表面齐平;在图形化蓝宝石衬底上生长GaN外延层,GaN外延层与图形化蓝宝石衬底间存有孔洞结构,其中GaN外延层由N‑GaN层、量子阱层、P‑GaN层组成;通过湿蚀刻,对GaN外延层侧面进行腐蚀,分离GaN外延层与蓝宝石衬底。
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