[发明专利]一种SixNy基电阻型存储器及其制备方法和应用无效

专利信息
申请号: 201110005463.3 申请日: 2011-01-12
公开(公告)号: CN102593349A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 刘琦;刘明;龙世兵;吕杭炳;谢常青 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 北京市德权律师事务所 11302 代理人: 王建国
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种SixNy基电阻型存储器及其制备方法和应用,属于微电子技术领域。所述SixNy基电阻型存储器包括上电极、绝缘介质层、阻变存储层和下电极,所述绝缘介质层设置于下电极之上,所述设置有绝缘介质层的下电极上具有一贯穿绝缘介质层的孔洞,所述阻变存储层和上电极均位于所述孔洞中,所述阻变存储层位于上电极和下电极之间,所述阻变存储层由SixNy材料制成,其中,x/y>3/4。本发明SixNy基电阻型存储器与CMOS工艺完全兼容,并具有超大存储窗口、高速、低功耗的特点。
搜索关键词: 一种 si sub 电阻 存储器 及其 制备 方法 应用
【主权项】:
一种SixNy基电阻型存储器,其特征在于,包括上电极、绝缘介质层、阻变存储层和下电极,所述绝缘介质层设置于下电极之上,所述设置有绝缘介质层的下电极上具有一贯穿绝缘介质层的孔洞,所述阻变存储层和上电极均位于所述孔洞中,所述阻变存储层位于上电极和下电极之间,所述阻变存储层由SixNy材料制成,其中,x/y>3/4。
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