[发明专利]纳米粒子检测器有效
| 申请号： | 201080069836.7 | 申请日： | 2010-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN103189734A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 福井俊巳 | 申请（专利权）人： | 英派尔科技开发有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G01N21/47;G01B11/08 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 贺卫国 |
| 地址： | 美国特*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本技术提供一种纳米粒子检测器，所述纳米粒子检测器包括纳米粒子收集器和光源，所述纳米粒子收集器配置为收集一定体积的包含纳米粒子的空气，所述光源配置为使光穿过所述一定体积的空气传输。所述的纳米粒子检测器还包括第一光接收元件，所述第一光接收元件配置为接收透射光的至少一部分并且基于所述透射光的散射性质检测所述一定体积的空气内的所述纳米粒子的特征。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米 粒子 检测器 | ||
【主权项】：
一种用于光学检测纳米粒子的方法，所述方法包括：在纳米粒子收集器中收集空气；使用光源穿过所述空气传输光；在第一光接收元件处接收透射光的至少一部分；以及基于所述透射光的散射性质检测所述空气内的纳米粒子的特征。
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