[发明专利]纳米粒子检测器

权利要求书

1.一种用于光学检测纳米粒子的方法，所述方法包括：

在纳米粒子收集器中收集空气；

使用光源穿过所述空气传输光；

在第一光接收元件处接收透射光的至少一部分；以及

基于所述透射光的散射性质检测所述空气内的纳米粒子的特征。

2.权利要求1所述的方法，其中所述检测所述空气内的纳米粒子的特征包括：基于从所述透射光反向散射的反向散射光的量测定一种或多种所述纳米粒子的尺寸。

3.权利要求1或2所述的方法，所述方法还包括使用透镜增加所述反向散射光的强度，并且其中所述透镜安置在所述纳米粒子收集器与所述第一光接收元件之间。

4.在前权利要求中的任一项所述的方法，其中所述检测所述空气内的纳米粒子的特征包括：基于所述透射光的衰减因子测定所述纳米粒子的浓度。

5.在前权利要求中的任一项所述的方法，所述方法还包括：

在第二光接收元件处接收反向散射光；

基于所述反向散射光检测一种或多种所述纳米粒子的尺寸；并且

基于所述透射光的衰减因子检测所述纳米粒子的浓度。

6.在前权利要求中的任一项所述的方法，所述方法还包括：通过将所述透射光反射离开两个以上反射镜使所述透射光沿所述光源与所述第一光接收元件之间的光引导路径通过。

7.一种纳米粒子检测器，所述纳米粒子检测器包括：

纳米粒子收集器，所述纳米粒子收集器配置为收集一定体积的包含纳米粒子的空气；

光源，所述光源配置为使光穿过所述一定体积的空气传输；

第一光接收元件，所述第一光接收元件配置为接收所述透射光的至少一部分并且检测所述透射光的散射性质；以及

处理器，所述处理器配置为基于在所述第一光接收元件处检测的所述透射光的所述散射性质检测所述一定体积的空气内的所述纳米粒子的特征。

8.权利要求7所述的纳米粒子检测器，其中所述特征的至少一个是一种或多种所述纳米粒子的尺寸，并且其中所述处理器进一步配置为基于从所述透射光反向散射的反向散射光的量测定所述的一种或多种所述纳米粒子的尺寸。

9.权利要求7或8中的任一项所述的纳米粒子检测器，所述纳米粒子检测器还包括配置为增加所述反向散射光的强度的透镜，其中所述透镜安置在所述纳米粒子收集器与所述第一光接收元件之间。

10.权利要求7-9中的任一项所述的纳米粒子检测器，所述纳米粒子检测器还包括安置在所述纳米粒子检测器与所述第一光接收元件之间的光纤，其中所述光纤配置为捕获所述反向散射光并且将所述反向散射光传输至所述第一光接收元件。

11.权利要求8-10中的任一项所述的纳米粒子检测器，其中所述一种或多种纳米粒子的尺寸根据基于所述反向散射光的动态光散射曲线测定。

12.权利要求7-11中的任一项所述的纳米粒子检测器，其中所述特征的至少一个是所述一定体积的空气内的所述纳米粒子的浓度，并且其中所述浓度基于由所述第一光接收元件所检测的所述透射光的衰减因子测定。

13.权利要求7-12中的任一项所述的纳米粒子检测器，其中所述光源是半导体激光器，并且其中所述第一光接收元件是雪崩光电二极管或电荷耦合器件。

14.权利要求7-13中的任一项所述的纳米粒子检测器，所述纳米粒子检测器还包括第二光接收元件，所述第二光接收元件配置为接收反向散射光，并且其中所述处理器进一步配置为基于所述反向散射光检测一种或多种所述纳米粒子的尺寸并且基于所述透射光的所述至少一部分的衰减因子检测所述纳米粒子的浓度。

15.权利要求7-14中的任一项所述的纳米粒子检测器，其中所述纳米粒子收集器包括配置为沿光引导路径反射所述透射光的两个以上反射镜。