[发明专利]PIN卡及使用PIN卡的试验装置

摘要

本发明涉及PIN卡及使用PIN卡的试验装置。在I/O端子（Pio）上连接有DUT1。交流试验单元（30）进行DUT1的交流试验。直流试验单元（40）进行DUT1的直流试验。光半导体开关（10）的第一端子（P1）与交流试验单元（30）连接，第二端子（P2）与I/O端子（Pio）连接。光半导体开关（10）根据输入到控制端子（P3、P4）的控制信号，可切换第一端子（P1）和第二端子（P2）之间的导通、切断状态。第一阻抗电路（20）设置在对正极控制端子（P3）的控制信号的信号路径上，第二阻抗电路（22）设置在对负极控制端子（P4）的控制信号的信号路径上。

主权项

一种PIN卡，其特征在于，包括：输入输出端子，其应与被试验设备连接；直流试验单元，进行所述被试验设备的直流试验；光半导体开关，其第一端子与用于进行所述被试验设备的交流试验的交流试验单元连接，其第二端子与所述输入输出端子以及进行所述被试验设备的直流试验的直流试验单元连接，根据输入到其正控制端子以及负控制端子的控制信号，可切换所述第一端子和所述第二端子之间的导通、切断状态；第一阻抗电路，设置在对所述光半导体开关的所述正控制端子的所述控制信号的信号路径上；以及第二阻抗电路，设置在对所述光半导体开关的所述负控制端子的所述控制信号的信号路径上。