[发明专利]具有测试电路的辐射探测器组件有效
| 申请号： | 201080058842.2 | 申请日： | 2010-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN102667526A | 公开（公告）日： | 2012-09-12 |
| 发明（设计）人： | C·赫尔曼;R·斯特德曼布克;O·米尔亨斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;G01T7/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种辐射探测器组件（20）包括被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块（40）以及与所述探测器阵列操作性连接的专用集成电路（42）。所述ASIC包括被配置成使从探测器阵列模块接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路（60）和被配置成向所述信号处理电路注入测试电脉冲的测试电路（80）。所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电流计（84）以及被配置成生成注入到所述信号处理电路中的测试电脉冲的电荷脉冲发生器（82）。通过使所述ASIC（42）与所述探测器阵列模块（40）操作性连接组装所述辐射探测器组件（20），并且在不利用辐射的情况下测试组装后的辐射探测器组件的ASIC的信号处理电路（60）。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 电路 辐射 探测器 组件 | ||
【主权项】：
一种设备，包括：专用集成电路（ASIC）（42），其被配置成与将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块（40）操作性连接，所述ASIC包括：信号处理电路（60），其被配置成使从所述探测器阵列接收的电探测脉冲数字化，测试电路（80），其被配置成执行对所述信号处理电路的电测试。
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