[发明专利]具有测试电路的辐射探测器组件

权利要求书

1.一种设备，包括：

专用集成电路（ASIC）（42），其被配置成与将辐射粒子转换成电探测脉冲的探测器阵列模块（40）操作性连接，所述ASIC包括：

信号处理电路（60），其被配置成使从所述探测器阵列接收的电探测脉冲数字化，

测试电路（80），其被配置成执行对所述信号处理电路的电测试。

2.一种设备，包括：

探测器阵列模块（40），其被配置成将辐射粒子转换成电探测脉冲；以及

专用集成电路（ASIC）（42），其与所述探测器阵列操作性连接，所述ASIC包括：

信号处理电路（60），其被配置成使从所述探测器阵列接收的电探测脉冲数字化，

测试电路（80），其被配置成向所述信号处理电路中注入测试电脉冲，所述测试电路包括被配置成测量注入到所述信号处理电路中的所述测试电脉冲的电流计（84）。

3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述ASIC（42）还包括如下部件之一：

能够经外部访问的校准电荷输入端子（88），所述电流计（84）还被配置成测量在所述能够经外部访问的校准电荷输入端子处输入的校准电荷，以及

能够经外部访问的校准输出端子（88），内部测试结构（94'）的电流或电流脉冲被配置成（95）在所述输出端子（88）处输出，以便利用与所述校准输出端子（88）连接的外部电流计或脉冲积分器对其进行度量，从而在对所述内部测试结构（94'）进行度量之后，能够利用所述内部测试结构（94'）对所述内部电流计（84）进行度量。

4.根据权利要求2-3中的任一项所述的设备，其中，所述电流计（84）包括脉冲积分器。

5.根据权利要求2-4中的任一项所述的设备，还包括：

在所述探测器阵列模块（40）与所述ASIC（42）之间的倒装芯片结合部（54）。

6.根据权利要求2-5中的任一项所述的设备，还包括：

处理器（24），其与所述ASIC（42）操作性连接并且被配置成执行ASIC测试方法，所述ASIC测试方法包括如下操作：

（i）使所述测试电路（80）向所述信号处理电路（60）中注入测试电脉冲，

（ii）使所述测试电路的所述电流计（84）测量通过操作（i）向所述信号处理电路中注入的所述测试电脉冲，并存储测量结果，

（iii）存储所述信号处理电路（60）响应于操作（i）的输出，以及

（iv）针对所述测试电脉冲的多个不同值重复操作（i）、（ii）和（iii）。

7.根据权利要求6所述的设备，其中：

所述信号处理电路包括多个ASIC像素，每个ASIC像素（60）都包括被配置成使从所述探测器阵列模块（40）的对应探测器像素（44）接收的电探测脉冲数字化的信号处理电路；并且

所述ASIC测试方法还包括如下操作：

（v）针对所述多个ASIC像素重复操作（i）、（ii）、（iii）和（iv），以及

（vi）基于通过操作（i）、（ii）、（iii）、（iv）和（v）生成的所存储的所述测试电脉冲的测量结果以及所存储的所述信号处理电路的输出对所述ASIC像素分类。

8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述ASIC测试方法还包括如下操作：

（vii）基于通过操作（vi）生成的对所述ASIC像素（60）的分类对所述ASIC（42）进行分类。

9.根据权利要求1-8中的任一项所述的设备，其中，所述测试电路（80）包括：

电荷脉冲发生器（82），其被配置成生成注入到所述信号处理电路（60）中的测试电脉冲。

10.根据权利要求9所述的设备，其中：

所述信号处理电路（60）包括至少一个比较器（64、65、66）；并且

所述电荷脉冲发生器（82）被配置成生成具有能够在一取值范围内进行选择的值的所述测试电脉冲，所述范围跨越所述至少一个比较器的阈值的预期范围。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述至少一个比较器包括具有不同阈值的多个比较器（64、65、66）。