[发明专利]进行样本的X射线分析的方法和设备有效
| 申请号： | 201080057541.8 | 申请日： | 2010-12-13 |
| 公开（公告）号： | CN102770753A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | R·耶勒佩迪;P-Y·内格罗 | 申请（专利权）人： | 赛默飞世尔科技(埃居布朗)有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N23/22;G01N23/223 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 马红梅;李浩 |
| 地址： | 瑞士埃*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： |
本发明提供了一种用于进行样本的X射线衍射(XRD)和/或X射线荧光(XRF)分析的方法，包括：利用来自一个X射线源的X射线照射一个样本；提供一个组合的XRD和XRF检测安排，该安排包括一个扫描波长选择器和用于检测由该波长选择器所选择的X射线的至少一个X射线检测器；并且通过利用该扫描波长选择器选择该样本衍射的X射线的至少一个固定波长并利用该X射线检测器以衍射角 |
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| 搜索关键词： | 进行 样本 射线 分析 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于进行样本的X射线衍射(XRD)和/或X射线荧光(XRF)分析的方法，包括：利用来自一个多色X射线源的X射线照射一个样本；提供一个组合的XRD和XRF检测安排，该安排包括一个扫描波长选择器和用于检测由该波长选择器所选择的X射线的至少一个X射线检测器；并且通过利用该扫描波长选择器选择由该样本衍射的X射线的至少一个固定波长并利用这个或这些X射线检测器以衍射角![]()
在该样本上的一个或多个值来检测具有这个或这些所选固定波长的X射线；和/或通过利用该扫描波长选择器扫描该样本发射的X射线的多个波长并利用这个或这些X射线检测器检测具有所扫描的波长的X射线来进行该样本的XRF分析。
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