[发明专利]用于检测金属盖的缺陷的设备、系统和方法有效
| 申请号： | 201080049544.7 | 申请日： | 2010-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN102725625A | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | M·伯德奇 | 申请（专利权）人： | 伊莫拉SACMI机械合作公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 茅翊忞 |
| 地址： | 意大利博*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖的缺陷的设备，所述设备包括：用于照亮将接受检查的元件的装置(30)；用于采集图像的诸如照相机等的图像采集单元，其能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件的图像；用于处理由所述图像采集单元采集的图像的单元，其适于检测所述缺陷，其中，所述照明装置(30)根据包括在预先设定的范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的光路实现的入射角(α)相对于相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 金属 缺陷 设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖(70)的缺陷的设备(1)，所述设备(1)包括：用于照亮将接受检查的元件(70)的装置(30)；用于采集图像的图像采集单元，例如照相机(40)等，所述图像采集单元能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件(70)的图像；用于处理由所述图像采集单元(40)采集的图像的单元，所述图像处理单元适于检测所述缺陷；其特征在于，所述照明装置(30)根据包括在预先设定范围内的两个或更多个频率(f1，f2，f3)发射辐射束，所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件(70)，个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α)，所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的所述光路实现的入射角(α)相对于所述相关发射频率(f1，f2，f3)成正比或反比。
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