[发明专利]用于检测金属盖的缺陷的设备、系统和方法有效
申请号: | 201080049544.7 | 申请日: | 2010-10-25 |
公开(公告)号: | CN102725625A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | M·伯德奇 | 申请(专利权)人: | 伊莫拉SACMI机械合作公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 茅翊忞 |
地址: | 意大利博*** | 国省代码: | 意大利;IT |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检测 金属 缺陷 设备 系统 方法 | ||
1.一种用于检测将接受检查的元件、特别是金属盖(70)的缺陷的设备(1),所述设备(1)包括:
用于照亮将接受检查的元件(70)的装置(30);
用于采集图像的图像采集单元,例如照相机(40)等,所述图像采集单元能检测被所述照明装置(30)照亮的所述将接受检查的元件(70)的图像;
用于处理由所述图像采集单元(40)采集的图像的单元,所述图像处理单元适于检测所述缺陷;
其特征在于,
所述照明装置(30)根据包括在预先设定范围内的两个或更多个频率(f1,f2,f3)发射辐射束,
所述辐射束中的每一个根据光路照亮所述将接受检查的元件(70),个体化包括在最小掠入射角和最大散射入射角之间的相对于所述将接受检查的元件的表面的入射角(α),
所述照明装置(30)设置成使得通过由照明装置(30)发射的所述辐射束中的每一个的所述光路实现的入射角(α)相对于所述相关发射频率(f1,f2,f3)成正比或反比。
2.根据权利要求1所述的设备(1),其特征在于,所述最小掠入射角(α)对应于由所述照明装置在所述设定范围的较低频率下(f1)发射的所述辐射束。
3.根据前述权利要求中的一项所述的设备(1),其特征在于,所述照明装置(30)包括多个用于发射所述辐射束的LED,所述LED设置成使得由所述LED中的每一个发射的辐射束光路的入射角(α)相对于所述发射频率成正比或反比。
4.根据前述权利要求中的一项所述的设备(1),其特征在于,所述照明装置(30)包括:
漫射体(31),所述漫射体具有大致半球形状,其凹面朝下,在顶部处设置有孔,所述图像采集单元通过所述孔检测所述将接受检查的元件(70)的图像,
并且其中,所述第一照明装置(39)的所述LED被分组成第一、第二和第三LED组件(33,34,35),所述第一LED组件(33)按照环状排列安装在所述漫射体(31)外部,以便掠射照亮所述将接受检查的元件(30),并且适于在第一最小频率(f1)下,优选地在红色域内发射,所述第二LED组件(34)按照环形排列安装在所述漫射体外部,以便照亮将接受掠散射检查的所述元件(70),并且适于在第二中间频率(f3)下,优选地在绿色域内发射,所述第三LED组件(35)包括按照环状排列安装在所述漫射体(31)上方的第一LED组件(35’)和垂直布置在所述漫射体(31)上方的第二LED组件(35”),以便照亮所述将接受散射检查的元件(70),并且适于在第三中间频率(f3)下,优选地在蓝色域内发射。
5.根据权利要求4所述的设备(1),其特征在于,所述照明装置(30)还包括分光镜(36),所述分光镜设置在所述漫射体(31)上方,反射由在所述将接受检查的元件(70)上的所述第二LED组件(35”)发射的所述辐射束,并允许通过所述图像采集单元(40)检测所述将接受检查的元件(70)的图像。
6.根据前述权利要求中的一项所述的设备(1),其特征在于,所述设备包括在底部处开放的保护罩(20),所述保护罩内设置有所述图像采集单元(40)和所述照明装置(30),所述照明装置被置于所述图像采集单元(40)下方。
7.根据前述权利要求中的一项所述的设备(1),其特征在于,所述图像处理单元可根据所述两个或多个频率(f1,f2,f3)中的每一个进行图像数字过滤,以便自动识别每个过滤图像的所述缺陷。
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