[发明专利]基底基板、3B族氮化物结晶及其制法有效

专利信息
申请号: 201080046040.X 申请日: 2010-10-15
公开(公告)号: CN102575384A 公开(公告)日: 2012-07-11
发明(设计)人: 平尾崇行;下平孝直;今井克宏 申请(专利权)人: 日本碍子株式会社
主分类号: C30B29/38 分类号: C30B29/38;C30B19/12;H01L21/208
代理公司: 上海市华诚律师事务所 31210 代理人: 李晓
地址: 日本国爱知县名*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在基底基板(18)的主面(c面)(18a)上以阶梯状形成有多个台阶(19)。各台阶(19)的阶差为10~40μm,边缘形成为与GaN的六方晶的a面平行。又,各台阶(19)的平台宽度被设定为规定的宽度。规定的宽度被设定为,在基底基板(18)的主面(18a)上生长GaN结晶之后,从表面侧观察该生长后的GaN结晶时,通过晶界使主面(18a)被覆盖隐藏。多个台阶(19)通过例如干蚀刻、喷沙、激光、冲切等来形成。
搜索关键词: 基底 氮化物 结晶 及其 制法
【主权项】:
一种基底基板,其是包括3B族氮化物的晶种层的基底基板,其特征在于,在基底基板的主面具有阶差为微米级的多个台阶。
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