[发明专利]用于检查诸如容器、盖子等凹入元件的设备

摘要

本发明涉及一种用于检查诸如容器、盖子(3)等的凹入元件的设备(1)，以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷，该设备包括用于照亮待接受检查的凹入元件(3)的装置(4)、诸如相机(6)等的图像检测单元、光学组件(5)和用于处理通过所述图像检测单元(6)获得的图像以区别所述凹入元件(3)的所述污染物的装置，其特征在于，所述照明装置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″)，第一光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照，第二光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的外部侧向表面(3″)上的掠入射光照，并且所述光学组件(5)放置成检测由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)发射的光并将光传送到所述图像检测单元(6)。

主权项

一种用于检查诸如容器、盖子(3)等凹入元件的设备，以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷，所述设备包括：用于照亮待接受检查的凹入元件(3)的装置(4)，诸如相机(6)等的图像检测单元，光学组件(5)以及用于处理通过所述图像检测单元(6)的图像获得以区别所述凹入元件(3)的所述缺陷和/或所述污染物的装置，其特征在于，所述照明装置(4)包括第一光源(4′)和第二光源(4″)，所述第一光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的凹入表面上的漫射光照，第二光源适于产生引导在所述凹入元件(3)的外部侧向表面(3″)上的掠入射光照，以及所述光学组件(5)放置成检测由所述凹入元件(3)的凹入表面(3′)发射的光并将光传送到所述图像检测单元(6)。