[发明专利]用于检查诸如容器、盖子等凹入元件的设备无效

专利信息
申请号: 201080035136.6 申请日: 2010-07-30
公开(公告)号: CN102597750A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: M·伯德奇;S·卡罗利 申请(专利权)人: 伊莫拉SACMI机械合作公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G01N21/90
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 茅翊忞
地址: 意大利博*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要:
搜索关键词: 用于 检查 诸如 容器 盖子 元件 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种用于检查诸如容器、盖子等凹入元件的设备。

背景技术

更具体地,本发明涉及一种用于检查凹入元件,并特别是用于使含有软饮料等的瓶子闭合的塑料盖子的设备,该设备可检查凹入表面,从而允许检测污染物和/或缺陷,这些缺陷是诸如材料过多和/或缺少、形状和/或组装缺陷。

下面,本发明将解决对用于软饮料的塑料盖子的检查,但显然不必考虑将其局限于该具体用途。

如已熟知,塑料瓶子(PET等)主要由于它们较小的重量而总是被更多地使用,所述瓶子具有较高的卫生标准和大大减少的运输费用。塑料瓶子通过由螺纹连接的合适的盖子进行密封。此外,基于瓶子内含有的饮料而使用不同的盖子。对于碳酸饮料,它们采用设有位于凹入表面的底部上、适于限制气体从瓶子排出的盘状垫片(也称为“衬垫”)的盖子。所述垫片的边缘插在盖子底部和盖子的内部侧向表面上获得的圆形突起之间,叠置在所述垫片上。与此相对,对于非碳酸饮料使用设有与瓶子边缘相互作用的密封环的盖子。

在此领域中,有必要为了确保瓶子内含有的产品的适当保存并为了防止饮料罐主要从垫片泄漏添加气体而需要控制垫片的定位或密封环的适当形状。

目前,存在允许检测盖子缺陷的不同系统,主要是光学系统。在这些解决方案中,可以提及在EP 1078228B1、JP 9068503、EP 0371547和JP 2004109064A中所述的那些,它们基本上包括相机或传感器、用于照亮待检查的盖子的装置、适于将检测到的盖子图像发送到相机或传感器镜头以获得所述盖子的光学图像的光学组件。此外,通常已知的设备具有用于处理图像以自动检测盖子缺陷的装置。

然而,已知系统并不解决检测垫片的适当定位的问题。此外,已知设备中使用的光学组件不能分析通常非常复杂的盖子的内部结构。

最后,由于越来越严格的市场需求,饮料瓶子以及相关的盖子具有不同的颜色。这使在检测缺陷时难以保持高的可靠度,这是因为该盖子和垫片之间的对比度太低。

发明内容

鉴于上述,因此本发明的目的是建议一种用于检测诸如容器、盖子等的凹入元件的设备,从而允许解决上述问题,并且特别是检测诸如瓶盖内的密封环的接受检查的元件的构造缺陷,并当考虑盖子时,对于复杂元件总是评估可能的组装缺陷,诸如内部垫片的适当定位。

本发明的另一目的是根据本发明的设备适于一般性地检查设有垫片或密封环的盖子。

本发明的又一目的是设备可以可靠地检查具有每一种颜色的盖子以及透明的盖子和/或不透过光辐射的盖子。

因此,本发明的具体目的是一种用于检查诸如容器、盖子等凹入元件的设备,以检测污染物和/或诸如材料过多和/或缺少的缺陷,该设备包括用于照亮待接受检查的凹入元件的装置、诸如相机等的图像检测单元、光学组件和用于处理通过所述图像检测单元获得的图像以区别所述凹入元件的所述缺陷和/或所述污染物的装置,其特征在于,所述照明装置包括第一光源和第二光源,第一光源适于产生引导在所述凹入元件的凹入表面上的漫射光照,第二光源适于产生引导在所述凹入元件的外部侧向表面上的掠入射(grazing)光照,并且所述光学组件放置成检测由所述凹入元件的凹入表面发射的光并将光传送到所述图像检测单元。

还根据本发明,所述凹入元件不透过由所述照明装置发射的辐射,所述第一光源是激活的,而所述第二光源被衰减或关闭,而如果所述凹入元件透过由所述照明装置发射的辐射,则所述第二光源是激活的,而所述第一光源被衰减或关闭。

仍根据本发明,所述第一光源和所述第二光源适于产生具有不同波长,较佳为红色和/或蓝色和/或绿色和/或红外的光照,因而如果所述凹入元件透过由所述照明装置发射的辐射,则所述照明装置适于通过具有更好地近似于所述凹入元件的主色的波长或者所述凹入元件更好地透过的基本上单色的光来照亮所述凹入元件,而如果所述凹入元件不透过由所述照明装置发射的辐射,则所述照明装置适于通过具有更好地近似所述凹入元件的待接受检查的内部部件的主色的波长或所述内部部件更好地透过的或根据红外辐射波长的基本上单色的光来照亮所述凹入元件。

此外,根据本发明,所述第一光源和所述第二光源包括多个LED。

有利地,根据本发明,所述第二光源具有环形形状,而所述第一光源具有环形形状并且相对于所述第二光源基本上同心放置。

总是根据本发明,所述光学组件放置在待接受检查的所述凹入元件的上方,并具有至所述凹入元件的外部侧壁的检测角,所述检测角相对于与待接受检查的所述凹入元件的定位平面垂直的轴线测量大于30°,较佳地约45°。

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