[发明专利]具有增大的提取效率的再发光半导体构造无效

专利信息
申请号: 201080030323.5 申请日: 2010-04-30
公开(公告)号: CN102460741A 公开(公告)日: 2012-05-16
发明(设计)人: 杨朝晖;易亚沙;凯瑟琳·A·莱瑟达勒;迈克尔·A·哈斯;特里·L·史密斯 申请(专利权)人: 3M创新有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20;H01L33/08;H01L33/00;H01L25/16
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 梁晓广;关兆辉
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明整体涉及固态半导体光源以及相关的器件、系统、和方法。半导体层叠堆(310)形成再发光半导体构造(RSC)。叠堆(310)包括将第一波长的光转换成第二波长的光的有源区(316),有源区(316)包括至少一个势阱。叠堆(310)还包括从叠堆的外表面延伸到有源区的无源区(318)。凹陷(326)形成于叠堆(310)中,且凹陷(326)从外表面延伸到无源区(318)内。平均凹陷深度为无源区的厚度的至少50%。作为另外一种选择,平均凹陷深度为最近势阱距离的至少50%。本发明还公开了凹陷(326)的其他可供选择的特征。凹陷(326)可在平面图中具有至少40%的堆积密度。凹陷(326)的投影表面积的相当大一部分还可与倾斜表面相关。
搜索关键词: 具有 增大 提取 效率 再发 半导体 构造
【主权项】:
一种器件,其包括:半导体层的叠堆,所述叠堆包括:有源区,适于将第一波长λ1的光转换成第二波长λ2的光,所述有源区包括至少第一势阱;以及第一无源区,从所述叠堆的外表面延伸到所述有源区,从所述外表面到所述有源区的距离对应于所述第一无源区的厚度,所述第一无源区的特征在于其内传播的所述第一波长λ1的光基本上不转换成其他光;其中,所述叠堆还包括在其中形成的多个凹陷,所述多个凹陷从所述外表面延伸到所述第一无源区内,所述凹陷通过平均凹陷深度来表征,并且其中所述平均凹陷深度为所述第一无源区的厚度的至少50%。
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