[发明专利]具有可变间距的栅格阵列封装的改进的散热系统和方法无效
| 申请号: | 201080024162.9 | 申请日: | 2010-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN102449757A | 公开(公告)日: | 2012-05-09 |
| 发明(设计)人: | 李建军;罗伯特·W·沃伦;尼克·罗希 | 申请(专利权)人: | 科胜讯系统公司 |
| 主分类号: | H01L23/36 | 分类号: | H01L23/36;H01L23/48;H01L23/488 |
| 代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 周靖;郑霞 |
| 地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | 对于半导体器件来说,足够的散热是必要的。当器件超出指定的结温度时,器件可能被毁坏,不能正确执行,或可能具有减少的工作寿命。半导体封装件必须将来自芯片的热散发到外部环境(即,到PCB、空气等)以保持半导体器件低于一定的温度阈值。对于大部分器件来说,散热的最有效方式是穿过封装件外部的I/O连接并进入器件安装于其上的PCB。对于球形栅格阵列(BGA)封装件来说,外部的I/O连接是焊球。可变间距的封装件提供了没有引入较大成本的散热优势。 | ||
| 搜索关键词: | 具有 可变 间距 栅格 阵列 封装 改进 散热 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种半导体封装件,包括:半导体管芯;具有顶部表面和底部表面的衬底,所述衬底包括通孔,所述通孔包括导体;在所述衬底的所述顶部表面上的金属迹线;在所述底部表面上的包括接口盘的金属迹线,其中在所述底部表面上的金属迹线将所述接口盘耦合到所述通孔;以及其中所述底部表面包括第一区域和第二区域,并且在所述第一区域的所述接口盘以第一间距间隔开,以及在所述第二区域的所述接口盘以第二间距间隔开。
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