[发明专利]用于熔化曲线自动分析的系统和方法有效
| 申请号： | 201080021436.9 | 申请日： | 2010-05-14 |
| 公开（公告）号： | CN102428459A | 公开（公告）日： | 2012-04-25 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·查尔斯·罗宾斯;罗伯特·安德鲁·帕莱斯;卡尔·托马斯·威特沃 | 申请（专利权）人： | 爱达荷科技公司;犹他州立大学研究基金会 |
| 主分类号： | G06F17/00 | 分类号： | G06F17/00;G06F9/00 |
| 代理公司： | 北京汇信合知识产权代理有限公司 11335 | 代理人： | 张元俊 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于熔化曲线自动分析的系统和方法。实验熔化曲线被建模为真实熔化曲线和背景荧光的和。可以基于实验熔化曲线数据和背景信号模型来产生偏离函数。可以通过将实验曲线的范围划分为多个窗口来生成偏离函数。在每个窗口内，可以计算背景信号的模型与实验熔化曲线数据之间的拟合。所述偏离函数可以以所得到的拟合参数形成。所述偏离函数可以包括背景信号补偿以及可以被用在各种熔化曲线分析操作(诸如数据可视化、聚集、建立基因组、扫描、阴性样本去除等)中。所述偏离函数可以被用来引起自动的背景校正处理。经背景校正的熔化曲线还可以被进一步处理以去除聚集信号。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 熔化 曲线 自动 分析 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于分析熔化曲线数据的方法，所述方法包括：获取实验熔化曲线数据，所述实验熔化曲线数据包括作为温度的函数的多个电‑光(EO)辐射测量结果，通过将包括荧光染料的混合物熔化而获得所述测量结果，其中，所述实验熔化曲线数据包括背景EO辐射信号；获取所述背景EO辐射信号的模型；计算偏离函数，所述偏离函数将所述实验熔化曲线数据与背景EO辐射信号的模型之间的偏差量化为温度的函数；以及将所述偏离函数存储在计算机可读存储介质上，以用来分析所述混合物。
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