[发明专利]光特性测定探测器无效

专利信息
申请号: 201080019214.3 申请日: 2010-03-03
公开(公告)号: CN102413754A 公开(公告)日: 2012-04-11
发明(设计)人: 大泽聪 申请(专利权)人: 柯尼卡美能达精密光学株式会社
主分类号: A61B1/00 分类号: A61B1/00;G01N21/17
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李芳华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的课题在于提供一种能够不影响观察图像地检测探测器先端的位置和朝向的光特性测定探测器。该课题通过下述本发明解决:能够弯曲的光特性测定探测器,其备有:导光体(71),用来传送光源发出的光,将光照射到测定对象物;导管(70),用来支承导光体(71),使之绕轴旋转自在,且沿轴方向变位自在;导光体(71)至少导光用来测定测定对象物光特性的测定光及用来测定导光体位置的位置确定光之2种光,在导管(70)侧面上配置具有透过测定光、只向导光体返回位置确定光之特性的标识。
搜索关键词: 特性 测定 探测器
【主权项】:
一种能够弯曲的光特性测定探测器,其特征在于,备有:导光体,用来传送光源发出的光,将光照射到测定对象物;导管,用来支承导光体,使之绕轴旋转自在,且沿轴方向变位自在;导光体至少导光用来测定测定对象物光特性的测定光及用来测定导光体位置的位置确定光之2种光,在导管侧面上配置具有透过测定光、只向导光体返回位置确定光之特性的标识。
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