[发明专利]光特性测定探测器

说明书

技术领域

本发明涉及适用于例如光干涉断层图像化(OCT：Optical Coherent Tomography)装置等中的、用来向测定对象物照光并从测定对象物接受返回光的光特性测定探测器。

背景技术

近年来，在诊断生体组织时，除了得到其组织表面状态光学性信息的影像装置之外，有一种能够得到组织内部光学性信息的光干涉断层图像化(OCT：Optical Coherent Tomography)装置被提案。所谓光干涉断层图像化装置技术，是将低干涉性光分割为二，用其中之一的光照射被检体，然后，使带有被检体相位信息的返回散射光与另一光干涉，从干涉光的强度信息得到被检体的相位信息，对被检体的测定部位进行图像化(请参照专利文献1、2)。

专利文献1中，为了使贯通的插管能贯通合适的部位，在光图像诊断装置的光探测器部分上标上标识，通过观测其像，能够调整探测器先端的位置及/或旋转方向。

专利文献2中是采用插入管腔内得到断层图像的探测器、边使它在导管内移动边进行观察拍摄的管腔内图像化装置，其中通过在导管上标标识，确定断层图像的基准位置，进行没有位置偏离的图像化。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：特表2006-520244号公报

专利文献2：特开2007-7410号公报

发明内容

发明欲解决的课题

用细径的光探测器测定多处体内等测定对象物时，正确把握探测器先端在各测定处的朝向和位置是非常重要的。但是在探测器能够弯曲的情况时，因为探测器先端与尾部之间产生扭转，所以，单从探测器尾部的位置和朝向来特定先端的正确位置和朝向是困难的。

另外，以往的例子中是在探测器先端上配置位置确认用标识，检测测定光入射到标识上的返回光，确认探测器先端的位置。但是，因为是用实际测定光检测基准标识，所以，观察像上出现标识，产生标识的影子，位于标识背后的观察图像成为标识的阴影而缺落，还有图像对比度降低，存在问题。

本发明的目的在于，提供一种能够不影响观察图像地检测探测器先端的位置和朝向的光特性测定探测器。

用来解决课题的手段

为了达成上述目的。本发明是一种能够弯曲的光特性测定探测器，其特征在于，

备有：导光体，用来传送光源发出的光，将光照射到测定对象物；导管，用来支承导光体，使之绕轴旋转自在，且沿轴方向变位自在；

导光体至少导光用来测定测定对象物光特性的测定光及用来测定导光体位置的位置确定光之2种光，

在导管侧面上配置具有透过测定光、只向导光体返回位置确定光之特性的标识。

本发明中，优选测定光为近红外光，位置确定光为可见光。

本发明中，优选测定光是可干涉光，位置确定光是非干涉光。

本发明中，优选光特性测定探测器是旋转扫描探测器。

发明的效果

根据本发明，导光体传送测定光及位置确定光之二种光，同时，在导管的测定位置上配置具有透过测定光、只向导光体返回位置确定光之特性的标识，由此，能够不影响用测定光观察图像地用位置确定光检测探测器先端的位置和朝向。

附图说明

图1：本发明概念的概略结构示意图。

图2：本发明光探测器的一例结构示意图。

图3：光探测器先端附近各种结构的截面示意图。

图4：本发明光探测器应用于光断层测定装置的一例结构示意图。

具体实施方式

图1是本发明概念的概略结构示意图。光探测器P内部内藏光导纤维等导光体，在导光体先端备有光扫描部OS。光扫描部OS向测定对象物照光，并取入在测定对象物等反射的光。

测定光源SA供给用来测定测定对象物光特性的测定光，位置确定光源SB供给用来测定导光体位置的位置确定光。光源SA、SB发出的测定光和位置确定光由耦合器CA耦合，进一步经由耦合器CB供给到光探测器P。

光干涉断层图像化(OCT)的情况时，优选测定光是近红外区域(例如波长800nm～1500nm)的可干涉光，且位置确定光是可见区域(例如波长380nm～750nm)的非干涉光。通过位置确定光是LED等非干涉光，能够抑制干涉光时有光路长变化时产生干涉所引起的信号变化，能够更正确地测定位置。