[发明专利]涡电流缺陷检测探头有效
申请号: | 201080011030.2 | 申请日: | 2010-03-11 |
公开(公告)号: | CN102348972A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
发明(设计)人: | 桥本光男;森久和;末次秀彦;多田丰和 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
主分类号: | G01N27/90 | 分类号: | G01N27/90 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴敬莲 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 提供一种能够更加精确地检测磁性管中的缺陷的插入型涡电流缺陷检测探头。本发明还提供以高精度检查磁性管的缺陷的方法。一种涡电流缺陷检测探头,包括圆柱形轭铁(1)、沿圆柱形轭铁的圆柱轴线方向设置在该圆柱形轭铁的中间部分周围的多个检测线圈(5)、沿圆柱轴线方向设置在所述多个检测线圈的两侧的第一内部激励线圈和第二内部激励线圈(6)、以及第一永磁体和第二永磁体,第一永磁体和第二永磁体(3、4)沿圆柱轴线方向在第一激励线圈和第二激励线圈的两侧围绕轭铁设置,使得其磁化方向平行于轭铁的径向方向,其在圆柱形轭铁侧的磁极彼此不同。 | ||
搜索关键词: | 电流 缺陷 检测 探头 | ||
【主权项】:
一种涡电流缺陷检测探头,包括:圆柱形轭铁;多个检测线圈,沿圆柱形轭铁的圆柱轴线方向围绕所述圆柱形轭铁的中间部分设置;第一内部激励线圈和第二内部激励线圈,沿圆柱轴线方向设置在所述多个检测线圈的两侧;和第一永磁体和第二永磁体,沿圆柱轴线方向在第一激励线圈和第二激励线圈的两侧围绕轭铁设置,第一永磁体和第二永磁体的磁化方向平行于轭铁的径向方向,第一永磁体和第二永磁体在圆柱形轭铁侧的磁极彼此不同。
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