[发明专利]涡电流缺陷检测探头有效
| 申请号: | 201080011030.2 | 申请日: | 2010-03-11 |
| 公开(公告)号: | CN102348972A | 公开(公告)日: | 2012-02-08 |
| 发明(设计)人: | 桥本光男;森久和;末次秀彦;多田丰和 | 申请(专利权)人: | 住友化学株式会社 |
| 主分类号: | G01N27/90 | 分类号: | G01N27/90 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吴敬莲 |
| 地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电流 缺陷 检测 探头 | ||
1.一种涡电流缺陷检测探头,包括:
圆柱形轭铁;
多个检测线圈,沿圆柱形轭铁的圆柱轴线方向围绕所述圆柱形轭铁的中间部分设置;
第一内部激励线圈和第二内部激励线圈,沿圆柱轴线方向设置在所述多个检测线圈的两侧;和
第一永磁体和第二永磁体,沿圆柱轴线方向在第一激励线圈和第二激励线圈的两侧围绕轭铁设置,第一永磁体和第二永磁体的磁化方向平行于轭铁的径向方向,第一永磁体和第二永磁体在圆柱形轭铁侧的磁极彼此不同。
2.根据权利要求1所述的涡电流缺陷检测探头,其中所述第一激励线圈和第二激励线圈引起沿由所述多个检测线圈引起的涡电流的相反方向流动的涡电流。
3.根据权利要求1或2所述的涡电流缺陷检测探头,其中还包括设置在圆柱形轭铁与所述多个检测线圈、第一内部激励线圈和第二内部激励线圈之间的第三永磁体,第三永磁体的磁化方向平行于轭铁的轴向方向的方向。
4.根据权利要求1-3中任一项所述的涡电流缺陷检测探头,其中由永磁体产生的磁场的磁通密度在所述多个检测线圈之间的中间部分中为1.5特斯拉或更高。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的涡电流缺陷检测探头,其中圆柱形轭铁包括进气孔和多个排气孔,所述进气孔形成在圆柱形轭铁的内侧并沿圆柱轴线方向延伸,所述多个排气孔形成为沿圆柱形轭铁的径向方向从进气孔延伸至圆柱形轭铁的表面。
6.一种用于磁性管的缺陷检测方法,其中通过采用根据权利要求1-5中任一项所述的涡电流缺陷检测探头在磁性管的内侧执行涡电流缺陷检测。
7.根据权利要求6所述的用于磁性管的缺陷检测方法,其中包括多频率的电流提供至所述多个检测线圈。
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