[发明专利]半导体存储器装置及其控制方法有效

专利信息
申请号: 201080010186.9 申请日: 2010-03-12
公开(公告)号: CN102341862A 公开(公告)日: 2012-02-01
发明(设计)人: 神田和重 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11C13/00 分类号: G11C13/00
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 杨晓光;于静
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种半导体存储器装置,包括:多个存储器基元阵列,每个存储器基元阵列包括多个存储器基元,所述多个存储器基元阵列被层叠在半导体基底上以形成三维结构;以及数据输入/输出电路,其包括第一地址缓冲器和第二地址缓冲器以及控制器,所述第一地址缓冲器和第二地址缓冲器被配置为存储所述多个存储器基元的第一地址和第二地址,所述控制器被配置为在数据输入/输出时执行控制以将所述第一地址和所述第二地址分时输出到第一地址总线和第二地址总线。
搜索关键词: 半导体 存储器 装置 及其 控制 方法
【主权项】:
一种半导体存储器装置,包括:多个存储器基元阵列,每个存储器基元阵列包括多个存储器基元,所述多个存储器基元阵列被层叠在半导体基底上以形成三维结构;以及数据输入/输出电路,其包括第一地址缓冲器和第二地址缓冲器以及控制器,所述第一地址缓冲器和第二地址缓冲器被配置为存储所述多个存储器基元的第一地址和第二地址,所述控制器被配置为在数据输入/输出时执行控制以将所述第一地址和所述第二地址分时输出到第一地址总线和第二地址总线。
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