[实用新型]薄膜测厚仪无效
| 申请号： | 201020659845.9 | 申请日： | 2010-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN201945276U | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 韩雪山;袁文广;李志恒;崔洁 | 申请（专利权）人： | 中国包装科研测试中心 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300457 天津市塘*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种薄膜测厚仪，包括底座、载物台、固定杆、千分表，载物台固定在底座上表面，固定杆竖直固定在底座上，固定杆通过连接杆固定千分表，千分表底部伸出测量杆，测量杆底端头对准载物台中心，其特征在于：在千分表的外壳上端制有抬起测量杆的扳手。本实用新型提供一种新的薄膜测厚仪，在测厚时只需要将按压表头上的扳手，抬起测量杆，将薄膜放在测量杆下面，静置等千分表的读数稳定后即得到薄膜的厚度参数，测量时间短、效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 测厚仪 | ||
【主权项】：
一种薄膜测厚仪，包括底座、载物台、固定杆、千分表，载物台固定在底座上表面，固定杆竖直固定在底座上，固定杆通过连接杆固定千分表，千分表底部伸出测量杆，其特征在于：在千分表的外壳制有抬起测量杆的扳手。
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