[实用新型]薄膜测厚仪无效
| 申请号： | 201020659845.9 | 申请日： | 2010-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN201945276U | 公开（公告）日： | 2011-08-24 |
| 发明（设计）人： | 韩雪山;袁文广;李志恒;崔洁 | 申请（专利权）人： | 中国包装科研测试中心 |
| 主分类号： | G01B5/06 | 分类号： | G01B5/06 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300457 天津市塘*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 薄膜 测厚仪 | ||
【权利要求书】：
1.一种薄膜测厚仪，包括底座、载物台、固定杆、千分表，载物台固定在底座上表面，固定杆竖直固定在底座上，固定杆通过连接杆固定千分表，千分表底部伸出测量杆，其特征在于：在千分表的外壳制有抬起测量杆的扳手。
2.根据权利要求1所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述测量杆外部套装保护套筒，测量杆伸出保护套筒，保护套筒上端与千分表外壳相互固装。
3.根据权利要求1所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述连接杆的两端分别通过螺母与固定杆和保护套筒相连接。
4.根据权利要求1所述的薄膜测厚仪，其特征在于：所述测量杆底端头对准载物台中心。
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