[实用新型]基于全聚焦弯面晶体的有害元素快速检测仪无效
申请号: | 201020653980.2 | 申请日: | 2010-12-10 |
公开(公告)号: | CN202110150U | 公开(公告)日: | 2012-01-11 |
发明(设计)人: | 徐志诚;戚士元;陈鹏 | 申请(专利权)人: | 天津中和科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/223 | 分类号: | G01N23/223;G01N23/207 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 300457 天津市*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪,其特征在于它包括样品室、真空室中盘、真空锅体、荧光通道、分光盒体、弯晶托架、衍射通道、探测器、多道分析数据采集器、X射线源、高压电源、冷却系统、送样系统、光闸板、光闸控制器、动态真空部件、总控制板、输入输出接口、计算机及供电电源;优越性在于:采用全聚焦弯面晶体进行衍射分光,光路系统结构简单,具有全聚焦性,能将衍射线聚焦到一点或一条线,提高了衍射线强度,达到了最好的谱线分辨本领;采用X射线源上照射下放样结构,最大限度压缩真空锅体与样品室的空间,缩小了仪器体积,提高了样品激发效率,保护了X射线源及其窗口不被污染,延长了X射线源的使用寿命。 | ||
搜索关键词: | 基于 聚焦 晶体 有害 元素 快速 检测 | ||
【主权项】:
一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪,其特征在于它包括样品室、真空室中盘、真空锅体、荧光通道、分光盒体、弯晶托架、衍射通道、探测器、多道分析数据采集器、X射线源、高压电源、冷却系统、送样系统、光闸板、光闸控制器、动态真空部件、总控制板、输入输出接口、计算机及供电电源;所说的样品室固定在真空室中盘上,并分别与送样系统、动态真空部件连接;所说的样品室内腔安装有光闸板,光闸板紧贴真空室中盘的下表面;所说的光闸板连接光闸控制器,光闸控制器控制光闸板的开启与关闭;所说的真空室中盘固定在真空锅体上;所说的分光盒体与荧光通道、衍射通道连接,其内部装有弯晶托架;所说的分光盒体依靠荧光通道与真空锅体连接,依靠衍射通道与探测器连接;所说的弯晶托架安装有全聚焦弯曲晶体;所说的多道分析数据采集器分别与探测器、总控制板连接;所说的X射线源安装在真空锅体上,分别与高压电源、冷却系统连接;所说的总控制板通过输入输出接口分别与供电电源、计算机连接,且在控制仪器各种动作和数据传输时分别与送样系统、光闸控制器、动态真空部件、冷却系统、高压电源、探测器、多道分析数据采集器连接;上述所说的真空锅体表面均布地安装每种有害元素的荧光通道、分光盒体、衍射通道和探测器。
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