[实用新型]基于全聚焦弯面晶体的有害元素快速检测仪

权利要求书

1.一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于它包括样品室、真空室中盘、真空锅体、荧光通道、分光盒体、弯晶托架、衍射通道、探测器、多道分析数据采集器、X射线源、高压电源、冷却系统、送样系统、光闸板、光闸控制器、动态真空部件、总控制板、输入输出接口、计算机及供电电源；

所说的样品室固定在真空室中盘上，并分别与送样系统、动态真空部件连接；所说的样品室内腔安装有光闸板，光闸板紧贴真空室中盘的下表面；所说的光闸板连接光闸控制器，光闸控制器控制光闸板的开启与关闭；所说的真空室中盘固定在真空锅体上；所说的分光盒体与荧光通道、衍射通道连接，其内部装有弯晶托架；所说的分光盒体依靠荧光通道与真空锅体连接，依靠衍射通道与探测器连接；所说的弯晶托架安装有全聚焦弯曲晶体；所说的多道分析数据采集器分别与探测器、总控制板连接；所说的X射线源安装在真空锅体上，分别与高压电源、冷却系统连接；所说的总控制板通过输入输出接口分别与供电电源、计算机连接，且在控制仪器各种动作和数据传输时分别与送样系统、光闸控制器、动态真空部件、冷却系统、高压电源、探测器、多道分析数据采集器连接；上述所说的真空锅体表面均布地安装每种有害元素的荧光通道、分光盒体、衍射通道和探测器。

2.根据权利要求1所说的一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于所说的送样系统是能提供待测样品的水平进出、垂直升降和旋转的自动化系统。

3.根据权利要求1所说的一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于所说的动态真空部件是为仪器检测分析提供动态真空环境的装置。

4.根据权利要求1所说的一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于所说的全聚焦弯曲晶体是晶面半径为R，且表面半径为R/2的LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)晶体。

5.根据权利要求1所说的一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于所说的探测器是一体化X射线探测器，为流 气正比计数管探测器、充气正比计数管探测器、碘化钠探测器、Si(Li)探测器或Si-PIN探测器。

6.根据权利要求1所说的一种基于全聚焦弯曲晶体的有害元素快速检测仪，其特征在于所说的冷却系统是为X射线源工作提供循环冷却的装置，采用循环水冷装置或循环油冷装置。